[实用新型]光器件测试座

说明书

本实用新型提供一种光器件测试座，包括：一电绝缘本体、一分隔部和多个导电端子；其中电绝缘本体具有贯通电绝缘本体的通道；所述分隔部设置在电绝缘本体的通道，分隔部具有多个隔板用以将电绝缘本体的通道分隔为多个贯通电绝缘本体的穿孔，每一个穿孔安装有导电端子，其中分隔部的顶端是锥形体并且突出电绝缘本体的顶端，每一个隔板的顶端的横断面形状是上尖下宽用以在该隔板的顶端形成一壁刀；其中导电端子至少包含：管状的一插接部和一端子脚，管状的该插接部的内侧壁面具有至少三个朝向导电端子的轴心突出的弹片，端子脚和插接部连接并且朝向电绝缘本体的底端延伸到至少突出电绝缘本体的底端的位置。

技术领域

本实用新型是关于一种电子组件的测试座，特别是可以顺利地进行光器件的插拔的光器件测试座。

背景技术

大部分的元器件例如半导体工艺制造的电子器件或是光器件，在制造完成并且完成封装之后，通常还需要进行测试，以确保元器件的质量。由于科技的进步，许多元器件的体积愈来愈小，即使是在完成封装后也是非常的小，这种很小的元器件会增加元器件的测试难度。

一般而言，每一种元器都有特殊的测试仪器和测试座(测试插座)，测试座是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。它主要用于检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，而且必需具有操作简单、快捷迅速、故障定单元确等特点。

对于封装后具有端子或是接脚的元器件而言，准备进行测试的元器件通常是使用特殊的夹具，通过人工或自动化设备操作夹具，利用夹具将元器件插入预定的测试座，传统的测试座依据对应的受测试的元器件的端子数设计有对应的插孔，每一个插孔之中安装有导电接子用以供元器件的端子插入构成电性连接，传统的测试座的顶面为平面设计，可供受测试元器件的端子插入的插孔就分布在测试座的顶面，所以在使用夹具夹住受测试的元器件之后，需要准确的将受测试的元器件的端子对准测试座的插孔，才能将受测试的元器件的端子确实地插入测试座中对应的导电端子。对于测试过程对元器件的插拔操作而言，十分困难。

另一方面，传统测试座中的导电端子通常是一种管形的端子，元器件的端子在插入测试座的端子以及从导电端子拔出的过程，会受到相当的阻力而不利元器件的插拔操作，同时具有较大的接触电阻。

因此，如何改进传统测试座的上述问题，一直是元器件测试产业努力的目标之一。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种光器件测试座。

为了解决上述的技术问题，本实用新型光器件测试座的一种实施例，包括：

一电绝缘本体，电绝缘本体具有顶端和底端，电绝缘本体具有沿着电绝缘本体的轴向方向延伸并且贯通电绝缘本体的通道；

一分隔部，设置在电绝缘本体的通道，分隔部具有多个隔板，用以将电绝缘本体的通道分隔为多个贯通电绝缘本体的穿孔，分隔部的顶端为锥形体并且突出电绝缘本体的顶端，每一个隔板的顶端的横断面形状是上尖下宽用以在隔板的顶端形成一壁刀；以及

多个导电端子，分别固定安装在电绝缘本体的多个穿孔，所述导电端子至少包含：管状的插接部和端子脚，管状的插接部的内侧壁面具有至少三个朝向导电端子的轴心突出的弹片，端子脚和插接部连接并且朝向电绝缘本体的底端延伸到至少突出电绝缘本体的底端的位置。

作为本实用新型光器件测试座的优选结构，其中分隔部的多个隔板从电绝缘本体的通道的轴心沿着电绝缘本体的径向方向朝外辐射状地延伸。

作为本实用新型光器件测试座的优选结构，其中电绝缘本体的外侧壁具有至少二个导槽，所述二个导槽分别位于电绝缘本体的外侧壁对称电绝缘本体的轴心的位置。

在本实用新型光器件测试座的进一步优选实施例中，其中电绝缘本体的外侧壁具有四个导槽，该些导槽分别位于电绝缘本体的外侧壁对称电绝缘本体的轴心的位置。