[实用新型]一种中子探测器性能测试系统有效

专利信息
申请号: 201820178841.5 申请日: 2018-02-01
公开(公告)号: CN208026877U 公开(公告)日: 2018-10-30
发明(设计)人: 郭辉;张晨旭;张玉明;王雨田;黄海栗 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 刘长春
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 中子探测器 性能测试系统 前置放大器 中子辐射源 电连接 滤波器 本实用新型 锁相放大器 信号发生器 稳压电源 工控机 示波器 探测器 暗室 测试系统 对准 检测
【权利要求书】:

1.一种中子探测器性能测试系统,其特征在于,所述测试系统包括:探测器暗室(10)、中子辐射源(101)、前置放大器(20)、滤波器(30)、锁相放大器(40)、示波器(50)、工控机(60)、稳压电源(70)以及信号发生器(80);其中,

所述探测器暗室(10)内设置有所述中子辐射源(101),所述中子辐射源(101)对准待测中子探测器(102),所述待测中子探测器(102)、所述前置放大器(20)、所述滤波器(30)、所述锁相放大器(40)、所述示波器(50)以及所述工控机(60)依次电连接;

所述稳压电源(70)与所述待测中子探测器(102)电连接;

所述信号发生器(80)与所述前置放大器(20)电连接。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括数字源表(90),所述数字源表(90)串联至所述待测中子探测器(102)和所述工控机(60)之间。

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述探测器暗室(10)内还设置有升降台(12)、电动位移台(13)、调制盘(14)和探针(15);其中,

所述升降台(12)设置于所述电动位移台(13)上;

所述调制盘(14)设置于所述电动位移台(13)上方且与所述中子辐射源(101)连接;

所述探针(15)设置于所述升降台(12)上表面且分别与所述前置放大器(20)和所述数字源表(90)电连接。

4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述电动位移台(13)的行程长度为50mm,控制精度为5μm,直线度为5μm。

5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述探测器暗室(10)的侧壁可拆卸。

6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述中子辐射源(101)采用铍作为靶核。

7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述探测器暗室(10)还设置有氮气出气口和入气口。

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