[实用新型]一种薄膜型AlGaInP发光二极管芯片有效

专利信息
申请号: 201820161161.2 申请日: 2018-01-31
公开(公告)号: CN207967032U 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 李树强;陈芳;郭醒;吴小明;王光绪;刘军林;江风益 申请(专利权)人: 南昌大学;南昌黄绿照明有限公司
主分类号: H01L33/40 分类号: H01L33/40;H01L33/38
代理公司: 江西省专利事务所 36100 代理人: 张文
地址: 330047 江西*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 反射欧姆接触层 本实用新型 键合基 发光二极管芯片 金属键合层 薄膜型 空间层 多量子阱发光区 扩散阻挡金属层 电光转换效率 间隔距离 欧姆接触 区域电流 有效减少 板正面 光反射 区块化 基板 区块 遮挡 优化
【权利要求书】:

1.一种薄膜型AlGaInP发光二极管芯片,包括:具有正反面的键合基板;其特征在于:从键合基板正面往上依次为:基板侧金属键合层、外延侧金属键合层、P面扩散阻挡金属层、P面反射欧姆接触层;从P面反射欧姆接触层往上依次为P型电流扩展层、P型限制层、P侧空间层、多量子阱发光区、N侧空间层、N型限制层、N型粗化层、N型欧姆接触层,N电极;键合基板的反面为P电极;P面反射欧姆接触层为Ag或者Ni/Ag叠层金属结构,与P型电流扩展层形成良好的欧姆接触,同时具备光反射和欧姆接触功能。

2.根据权利要求1所述的薄膜型AlGaInP发光二极管芯片,其特征在于:在非粗化的N型欧姆接触层的上面制备N电极,N电极为Au/Ge/Ni叠层结构;每个N电极正对位置为P面反射欧姆接触层的间隔区,且N电极的中心与P面反射欧姆接触层的中心相对应,N电极的宽度a小于P面反射欧姆接触层的间距b,并满足a=x*b,x=0.7~0.9。

3.根据权利要求2所述的薄膜型AlGaInP发光二极管芯片,其特征在于:N电极的宽度a为1~20 μm。

4.根据权利要求1所述的薄膜型AlGaInP发光二极管芯片,其特征在于:P面反射欧姆接触层使用的Ni/Ag金属为叠层,厚度分别为0.1~1nm和100~300nm。

5.根据权利要求1所述的薄膜型AlGaInP发光二极管芯片,其特征在于:P面扩散阻挡金属层在P面反射欧姆接触层以外的区域与P型电流扩展层之间为非欧姆接触。

6.根据权利要求1所述的薄膜型AlGaInP发光二极管芯片,其特征在于:基板侧金属键合层和外延材料侧金属键合层的材料均为Sn、In、Ag、Au其中一种或多种。

7.根据权利要求1所述的薄膜型AlGaInP发光二极管芯片,其特征在于:P面扩散阻挡金属层的材料为Cr、Ti、Pt、Au、Ni、Wu、Cu其中一种或金属合金TiW、FeNiCr、FeCoCr其中一种。

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