[实用新型]一种纳米质谱仪有效
| 申请号： | 201820148408.7 | 申请日： | 2018-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN207811262U | 公开（公告）日： | 2018-09-04 |
| 发明（设计）人： | 黄旭光;舒宏伟;谢建豪;刘帅 | 申请（专利权）人： | 华南师范大学;深圳伊讯科技有限公司 |
| 主分类号： | B81B7/02 | 分类号： | B81B7/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 林丽明 |
| 地址： | 510631 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 传导光纤 纳米机械 光纤腔 振子 光源 顶面开口 量子点 质谱仪 探测器 本实用新型 漏斗状开口 一端连接 泵浦光 内表面 探测光 粘附 镶嵌 | ||
【权利要求书】：
1.一种纳米质谱仪，其特征在于：包括能够提供泵浦光和探测光的光源、传导光纤、保护外壳、量子点、纳米机械振子和探测器，光源、传导光纤设置在保护外壳内，光源与传导光纤的一端连接，传导光纤的另一端开设有顶面开口的光纤腔，量子点镶嵌于光纤腔的内表面上，纳米机械振子粘附在光纤腔的顶面开口上，探测器设置在保护外壳内；保护外壳上对应于纳米机械振子的位置开设有漏斗状开口。
2.根据权利要求1所述的纳米质谱仪，其特征在于：所述传导光纤为多模光纤。
3.根据权利要求1所述的纳米质谱仪，其特征在于：所述光纤腔由传导光纤的芯层通过激光刻蚀制备而成。
4.根据权利要求1所述的纳米质谱仪，其特征在于：所述纳米机械振子为二硫化钼纳米机械振子。
5.根据权利要求1~4任一项所述的纳米质谱仪，其特征在于：所述保护外壳的材质为金属。
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