[实用新型]可进行温度反馈的激光焊锡装置有效
申请号: | 201820116672.2 | 申请日: | 2018-01-22 |
公开(公告)号: | CN207858000U | 公开(公告)日: | 2018-09-14 |
发明(设计)人: | 黄规 | 申请(专利权)人: | 深圳市迈威测控技术有限公司 |
主分类号: | B23K1/005 | 分类号: | B23K1/005;B23K3/00;B23K3/08 |
代理公司: | 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 | 代理人: | 隆毅 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 激光发射器 焊锡装置 主控芯片 焊接 温度反馈 激光 正交驱动机构 本实用新型 红外测温仪 驱动组件 输出功率 三轴 预设 机台 功率调节单元 激光发射光路 温度设置单元 红外接收光 分束组件 红外测温 竖直设置 温度闭环 温度测量 良率 同轴 反馈 | ||
本实用新型公开一种可进行温度反馈的激光焊锡装置包括机台、主控芯片以及三轴正交驱动机构;三轴正交驱动机构包括竖直设置的Z轴驱动组件;可进行温度反馈的激光焊锡装置还包括分别设置在Z轴驱动组件上的激光发射器和红外测温仪,以及使红外测温仪的红外接收光路与激光发射器的激光发射光路同轴的第一分束组件;主控芯片还包括用于调整激光发射器的输出功率的功率调节单元、用于预设焊接温度的温度设置单元。本实用新型通过设置主控芯片、激光发射器和红外测温仪,使主控芯片可根据预设的焊接温度和焊接温度测量值,调整激光发射器的输出功率,形成温度闭环反馈,解决激光焊锡装置温度得不到精确的控制,良率和焊接品质较低的问题。
技术领域
本实用新型涉及激光焊锡领域,具体涉及一种可进行温度反馈的激光焊锡装置。
背景技术
随着技术的进步,大量的电子设备运用到人们的生活中。在电子设备的制造过程中,往往涉及电子元器件或者模组的焊接过程。常见的焊接工序一般使用激光焊锡机进行焊接。现有技术中,激光焊锡机没有温度闭环反馈装置,激光焊锡机在焊锡生产工作时,温度得不到精确的控制,经常会烧坏焊接产品,良率和焊接品质较低。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是提出一种可进行温度反馈的激光焊锡装置,旨在解决现有技术中,激光焊锡机没有温度闭环反馈装置,激光焊锡机在焊锡生产工作时,温度得不到精确的控制,良率和焊接品质较低的问题。
为实现上述目的,本实用新型提出一种可进行温度反馈的激光焊锡装置,包括机台以及与主控芯片连接的三轴正交驱动机构,所述三轴正交驱动机构包括水平设置在所述机台上的X轴驱动组件、水平设置在所述X轴驱动组件上并与X轴驱动组相互垂直的Y轴驱动组件,以及竖直设置在所述Y轴驱动组件上的Z轴驱动组件;所述可进行温度反馈的激光焊锡装置还包括分别设置在Z轴驱动组件上并与所述主控芯片连接的激光发射器和红外测温仪,以及使所述红外测温仪的红外接收光路与激光发射器的激光发射光路同轴的第一分束组件;所述主控芯片还包括用于调整所述激光发射器的输出功率的功率调节单元、用于预设焊接温度的温度设置单元。
优选地,所述可进行温度反馈的激光焊锡装置还包括与所述主控芯片连接,用于获取工件图像并定位焊点坐标的CCD模块,所述CCD模块的拍摄方向与所述激光的发射方向平行且竖直向下;还包括使CCD模块的拍摄光路与所述红外接收光路同轴的第二分束组件。
优选地,所述可进行温度反馈的激光焊锡装置还包括与所述主控芯片连接的显示模块,用于显示所述工件图像和焊接温度测量值。
优选地,所述可进行温度反馈的激光焊锡装置还包括与所述主控芯片连接,用于将所述激光发射器的输出功率值、焊接温度预设值、焊接温度测量值进行可视化处理的图像处理模块。
优选地,所述可进行温度反馈的激光焊锡装置还包括与所述主控芯片连接的采样率调节模块,用于调整所述红外测温仪的测量频次。
优选地,所述可进行温度反馈的激光焊锡装置还包括与所述主控芯片连接的质量监测模块,所述质量监测模块根据所述焊接温度预设值和所述焊接温度测量值判断焊接质量的质量监测模块。
优选地,所述可进行温度反馈的激光焊锡装置还包括与所述主控芯片连接的报警模块,所述主控芯片根据所述质量监测模块测试到的焊接质量信息,控制报警模块进行报警。
优选地,所述可进行温度反馈的激光焊锡装置还包括与所述主控芯片连接的存储模块,所述存储模块还用于存储所述工件图像以及焊接质量信息。
本实用新型通过设置主控芯片以及与主控芯片连接的激光发射器和红外测温仪,使主控芯片可根据预设的焊接温度和焊接温度测量值,调整激光发射器的输出功率,形成温度闭环反馈,解决激光焊锡装置在焊锡生产工作时,温度得不到精确的控制,良率和焊接品质较低的问题。
附图说明
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市迈威测控技术有限公司,未经深圳市迈威测控技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201820116672.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种线切割机床用冷却液循环系统
- 下一篇:钎焊一体式平板超导冷却器