[实用新型]一种配合内存条测试治具用的内核模块及其包装盒有效

专利信息
申请号: 201820055963.5 申请日: 2018-01-11
公开(公告)号: CN208412461U 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 卿琼 申请(专利权)人: 东莞市郡仁司电子科技有限公司
主分类号: B65D6/24 分类号: B65D6/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 523000 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 内核模块 包装盒 弓形导体 固定结构 盒体 内存条测试 模块本体 镂空孔 卡持 探头 外盒 治具 配合 本实用新型 固定模块 内部设置 内存条 盖体 空腔 盛放 适配 外框
【说明书】:

实用新型公开一种配合内存条测试治具用的内核模块及其包装盒,包括有模块本体,以及用来固定模块本体的定位外框,所述模块本体由片状固定结构和弓形导体组成,所述弓形导体固定于所述片状固定结构内,所述弓形导体的两端突出于所述片状固定结构形成与内存条接触的上探头和PCB板接触的下探头;该内核模块的包装盒,包括有用来盛放内核模块的外盒,所述外盒包括有盒体和盖体,所述盒体的内部设置有与内核模块相适配的空腔,所述盒体的底部设置有镂空孔,所述镂空孔的周侧设置有卡持沿,所述内核模块位于所述卡持沿的上部;该内核模块配合其包装盒可以完成内核模块的快速更好,使用方便。

技术领域

本实用新型涉及一种配合内存条测试治具用的内核模块及其包装盒。

背景技术

内存条是用于储存数据的一个重要计算机部件,由于计算机的广泛普及,越来越多的技术人员开始从事内存条的测试、维修工作。当前,内存条的测试方法主要分为两类:一是使用专用内存条测试治具,二是使用纯软件的内存条测试程序。

专用的内存条测试治具容易损坏,损坏后必须使用者把治具内的探针及用来定位探针的定位块全分解,检查更换探针后,再重新将新的探针和定位块安装上,安装工作复杂,一般的使用者都是邮寄会测试治具生产厂家进行维修,来回需要好几天,浪费时间。

参考图1和图2,与内核模块包装盒配合使用的内存条测试治具包括有底板1,以及位于底板1上部前侧的PCB板2,以及位于PCB板2和底板1上部的测试架本体3,以及位于测试架本体3上部的治具盖体4,所述底板1和PCB板2皆与测试架本体3可拆卸连接,所述测试架本体3内设置有安装槽31,所述安装槽31内安装有内核模块5。测试架本体3和底板1一般用螺丝固定,拧松螺丝便可以将底板1和PCB板2拆卸下,露出用来安装内核模块的安装槽31,使用者只需要从安装槽31的上部用力下压损坏的内核模块5即可将损坏的内核模块5从安装槽31上拆卸下来,然后装上新的内核模块,即可。

然而现在还缺少一种配合上述内存条测试治具使用的方便拆卸和安装的集成内核模块以及配合内核模块使用的包装盒。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型目的是提供一种方便拆装的内核模块和配合内核模块使用的包装盒。

为了解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:

一种配合内存条测试治具使用的内核模块,使用时,安装于内存条测试治具的安装槽内,且安装槽位于PCB板的上部,包括有模块本体,以及用来固定模块本体的定位外框,所述模块本体由片状固定结构和弓形导体组成,所述弓形导体固定于所述片状固定结构内,所述弓形导体的两端突出于所述片状固定结构形成与内存条接触的上探头和PCB板接触的下探头。

作为优选,所述片状固定结构设置有两个以上,所述片状固定结构的内部呈格栅状设置,所述弓形导体的两端贯穿所述片状固定结构。

作为优选,所述弓形导体的两端位于所述片状固定结构的一侧、中间部分位于片状固定结构的另一侧,固定有所述弓形导体的片状固定结构的两侧设置有另外两个片状固定结构,相邻的两个所述片状固定结构固定连接。

作为优选,所述定位外框的内壁上设置有与片状固定结构相配合的竖槽,所述模块本体与定位外框固定连接。

本实用新型所要解决的另一技术问题为提供一种盛放内核模块并实现快速更换内核模块的包装盒。

一种内核模块使用的包装盒,包括有用来盛放内核模块的外盒,所述外盒包括有盒体和盖体,所述盒体的内部设置有与内核模块相适配的空腔,所述盒体的底部设置有镂空孔,所述镂空孔的周侧设置有卡持沿,所述内核模块位于所述卡持沿的上部。

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