[实用新型]一种LED老化试验设备有效
申请号: | 201820047043.9 | 申请日: | 2018-01-12 |
公开(公告)号: | CN207964881U | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 林艺宾 | 申请(专利权)人: | 苏州工业园区浩高电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/44 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市苏州工业园区星*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 立柱 固定杆 纵杆 轨道固定杆 老化试验 检测 垂直安装 电源支撑 轨道支撑 限位杆 横杆 本实用新型 垂直连接 从上到下 轨道支架 两端水平 散热效率 试验设备 上端 配电箱 拆卸 挡条 热损 轨道 支撑 | ||
本实用新型公开了一种LED老化试验设备,包括立柱、检测固定杆、限位杆和电源支撑,所述立柱的两端水平安装有纵杆,且立柱和纵杆连接处固定有横杆,所述立柱分别通过纵杆和横杆与另一立柱的两端相互连接,所述检测固定杆固定于立柱上从上到下438mm的位置,且检测固定杆与立柱的连接处垂直安装有检测支撑,所述轨道支架的底部垂直连接有轨道挡条,所述轨道固定杆设置于立柱上检测固定杆下方701mm处,且轨道固定杆与立柱的连接处垂直安装有轨道支撑,所述限位杆固定于轨道支撑与纵杆之间立柱的边侧,所述电源支撑的上端连接于轨道固定杆的底部。该LED老化试验设备,方便配电箱拆卸安装,加快试验设备的散热效率,避免设备发生热损。
技术领域
本实用新型涉及老化检测装置技术领域,具体为一种LED老化试验设备。
背景技术
LED老化试验设备是一种针对LED灯管特殊设计的老化检测装置,在LED灯管出厂前进行通电检测,在一定的工作时间内对LED灯管的正常工作状态进行观察,得出管道内部是否有不稳定的电子原件或者焊接的偏位导致的照明不稳,从而尽早的对不合格的LED灯管进行回收处理。
然而现有的LED老化试验设备在检测过程中检测零件散热速度较慢,容易造成检测装置内部零件的热损,致使检测效率缓慢,在使用时配电箱拆卸安装不便,对于设备的使用需要消耗大量的人工劳动力。针对上述问题,急需在原有LED老化试验设备的基础上进行创新设计。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种LED老化试验设备,以解决上述背景技术提出现有的LED老化试验设备在检测过程中检测零件散热速度较慢,容易造成检测装置内部零件的热损,致使检测效率缓慢,在使用时配电箱拆卸安装不便的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种LED老化试验设备,包括立柱、检测固定杆、限位杆和电源支撑,所述立柱的两端水平安装有纵杆,且立柱和纵杆连接处固定有横杆,并且纵杆和横杆垂直连接,所述立柱分别通过纵杆和横杆与另一立柱的两端相互连接,所述检测固定杆固定于立柱上从上到下438mm的位置,且检测固定杆与立柱的连接处垂直安装有检测支撑,并且检测固定杆通过轨道支架与另一检测固定杆的内侧相互连接,所述轨道支架的底部垂直连接有轨道挡条,且轨道挡条的另一端设置有另一轨道支架,并且另一轨道支架固定于轨道固定杆上,所述轨道固定杆设置于立柱上检测固定杆下方701mm处,且轨道固定杆与立柱的连接处垂直安装有轨道支撑,并且轨道支撑的中心通过轨道分隔条与检测支撑的中心相互连接,所述限位杆固定于轨道支撑与纵杆之间立柱的边侧,所述电源支撑的上端连接于轨道固定杆的底部,且电源支撑的下端与横杆垂直连接,并且横杆通过电源支架与另一横杆相互连接。
优选的,所述立柱、纵杆和横杆组成一个矩形框架结构,且立柱、纵杆和横杆的长度依次设置为1799mm、631mm和920mm,并且立柱的边端截面为30×40mm的矩形。
优选的,所述轨道挡条关于另一轨道支架中心轴线对称设置有3个,且轨道挡条和另一轨道支架所在的平面与轨道支架中心处轨道挡条和轨道分隔条所在平面相互垂直。
优选的,所述限位杆关于纵杆轴线对称设置有2个,且限位杆和电源支撑的长度均等于660mm。
优选的,所述电源支撑与轨道分隔条的垂直间距大于轨道挡条与轨道分隔条的垂直间距,且电源支撑与轨道挡条平行设计。
优选的,所述电源支架均匀、等间距分布,且电源支架的个数等于3。
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