[实用新型]EEPROM测试装置

说明书

本申请公开了EEPROM测试装置，包括控制模块，所述控制模块连接待测EEPROM，还包括开关模块，选择多个供电电压之一；以及低压检测模块，与所述开关模块连接以接收选择的供电电压，与EEPROM连接，从而将所述供电电压提供给所述EEPROM以及获得反馈电压，与所述控制模块连接以提供所述反馈电压，其中，所述控制模块根据接收的所述反馈电压对所述EEPROM进行应答位测试，以产生测试结果通过控制信号输出至所述低压检测模块，所述开关模块按照电压从小到大的顺序依次选择所述多个供电电压。本实用新型提供的EEPROM测试装置通过增加低压检测模块完成了对EEPROM的供电测试，以及通过控制模块对待测EEPROM进行末地址读写的容量测试，提高了EEPROM测试装置对EEPROM功能测试的准确性、高效性。

技术领域

本实用新型涉及存储器测试技术领域，更具体地，涉及一种EEPROM测试装置。

背景技术

EEPROM(Electrically Erasable Programmable read only memory，电可擦可编程只读存储器)是一种掉电后数据不丢失的存储芯片，可以在电脑上或专用设备上擦除已有信息，重新编程。对EEPROM功能测试的原理为给每个字节写入随机码，通过读取验证是否与写入一致，进而测试EEPROM功能是否正常。

目前，对EEPROM功能测试的方法主要是依据EEPROM的不同容量，来编写适应于此容量的EEPROM的测试程序。且测试不同容量的EEPROM时，需要更换不同的程序或者更改不同的参数，来进行对特定EEPROM的测试。当测试未知容量的EEPROM时，需要利用其它方法得知芯片容量，比如专用读写软件。上述依据EEPROM不同容量选定适应于此容量EEPROM测试程序的方法，操作比较繁琐费时，降低了测试速度。

因此，有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种EEPROM测试装置以解决现有技术中存在的技术问题。

根据本实用新型提供的一种EEPROM测试装置，包括控制模块，所述控制模块连接待测EEPROM，所述EEPROM测试装置还包括开关模块，选择多个供电电压之一；以及低压检测模块，与所述开关模块连接以接收选择的供电电压，与EEPROM连接，从而将所述供电电压提供给所述EEPROM以及获得反馈电压，与所述控制模块连接以提供所述反馈电压，所述控制模块根据接收的所述反馈电压对所述EEPROM进行应答位测试，以产生测试结果通过控制信号输出至所述低压检测模块，所述开关模块按照电压从小到大的顺序依次选择所述多个供电电压。

优选地，所述EEPROM的应答位有应答，则所述低压检测模块根据接收的所述控制信号停止接收所述开关模块选择的下一供电电压，所述EEPROM的应答位无应答，则所述低压检测模块根据接收的所述控制信号接收所述开关模块选择的下一供电电压。

优选地，所述控制模块还包括对所述EEPROM进行容量测试，所述控制模块对所述EEPROM的多个地址写入数据并读出，并对读出数据与背景数据比较。

优选地，所述多个地址为多种容量对应的测试程序的末地址。

优选地，所述多个地址的排列顺序按照所述测试程序对应容量从大到小的顺序排列。

优选地，根据所述待测EEPROM的容量选取对应的所述测试程序，将选取的所述测试程序写入所述EEPROM进行功能测试。

优选地，所述EEPROM测试装置还包括键盘，输入功能测试次数，与所述控制模块连接以传输功能测试次数至所述控制模块；以及显示模块，与所述控制模块连接以接收功能测试的结果并显示。

优选地，所述显示模块与所述控制模块之间通过串行通信，所述显示模块通过第二外部电压供电，所述控制模块通过第一控制模块供电。