[实用新型]一种测试探头及测试设备

说明书

本实用新型提供了一种测试探头及测试设备，所述测试探头包括：探头主体，所述探头主体包括相对设置的第一端和第二端，所述探头主体的第一端端面上设有用于容置所述待测元件的至少一个凹槽，所述凹槽内设有相互绝缘的至少两个导电部，所述至少两个导电部用于与所述待测元件的不同测试点位接触；以及，设置于所述探头主体上的相互绝缘的至少两根引线，每一所述引线的一端对应连接一所述导电部，另一端从所述探头主体引出。本实用新型所提供的测试探头及测试设备，能够解决现有技术中由于待测元件尺寸过小，探针测试时不易对准测试点位的问题，便于对小尺寸待测元件进行测试。

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试探头及测试设备。

背景技术

在现有技术中，通常采用测试探针来对电器元件进行测试。在测试小尺寸电容电阻元件的电压电流时，由于元件尺寸过小，现有的测试探针不易扎在元件的测试点位上，操作比较困难；并且由于测试探针的表面裸露，容易碰到别的元件而造成短路，从而影响测试结果。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试探头及测试设备，能够解决现有技术中由于待测元件尺寸过小，探针测试时不易对准测试点位的问题，便于对小尺寸待测元件进行测试。

本实用新型所提供的技术方案如下：

一种测试探头，用于对待测元件进行测试；所述测试探头包括：

探头主体，所述探头主体包括相对的第一端和第二端，所述探头主体的第一端端面上设有用于容置所述待测元件的至少一个凹槽，所述凹槽内设有相互绝缘的至少两个导电部，所述至少两个导电部用于与所述待测元件的不同测试点位接触；

以及，设置于所述探头主体上的相互绝缘的至少两根引线，每一所述引线的一端对应连接一所述导电部，另一端从所述探头主体引出。

进一步的，每一所述导电部至少部分位于所述凹槽的槽底，至少部分位于所述凹槽的侧壁上。

进一步的，所述测试探头还包括一罩设于所述探头主体外的绝缘外壳。

进一步的，所述探头主体至少包括：绝缘部件；及，设置在所述绝缘部件的相对两侧的两个金属片；

其中，所述两个金属片的第一端均超出所述绝缘部件的第一端之外，以与所述绝缘部件的第一端端面配合形成所述凹槽，所述两个金属片的第一端超出所述绝缘部件之外的部分分别形成两个所述导电部。

进一步的，所述金属片的第一端端面上具有向该金属片的第二端凹陷所形成的台阶结构，且所述台阶结构位于所述金属片在与另一所述金属片相对的一侧，所述台阶结构包括面向另一所述金属片的第一台阶面和与所述金属片的第一端端面平行的第二台阶面，所述第一台阶面和所述第二台阶面形成所述导电部。

进一步的，所述第一台阶面与所述绝缘部件的第一端端面齐平。

进一步的，所述引线设置于所述绝缘部件内部，并从所述绝缘部件引出。

进一步的，所述绝缘部件的第二端至少部分超出所述两个金属片的第二端，所述引线自所述绝缘部件的第二端伸出。

进一步的，所述引线的从所述探头主体引出的一端还连接有用于与测试设备的设备本体进行连接的接插结构。

一种测试设备，包括设备本体及如上所述的测试探头，其中所述测试探头的引线与所述设备本体电连接。

本实用新型所带来的有益效果如下：