[发明专利]一种线路层孤立区域的识别方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种线路层孤立区域的识别方法、装置、设备及存储介质，方法包括步骤：将线路层按照固定尺寸划分成多个子区域；分别检测多个子区域的残铜率；根据残铜率获取孤立区域；装置包括：划分模块，用于将线路层按照固定尺寸划分成多个子区域；检测模块，用于分别检测多个子区域的残铜率；获取模块，用于根据残铜率获取孤立区域。本发明通过软件将线路层按照固定尺寸划分成多个子区域，分别检测多个子区域的残铜率，根据残铜率获取孤立区域。克服了现有技术中存在的人为判断孤立区域误差大且成本高的技术问题，提供了一种自动化、准确性高的线路层孤立区域的识别方法、装置、设备及存储介质，具有良好的经济和社会效益。

技术领域

本发明涉及印制电路板领域，尤其是涉及一种线路层孤立区域的识别方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

现有技术中，印制电路板在用户设计图形资料时，部分资料存在线路图形有孤立区域(即大面积无铜、少铜)的情况，此类孤立区域在电路板生产过程中，容易引起夹膜问题，不仅会影响电路板的质量，甚至会导致此批次电路板报废，增加企业成本。为了解决此问题，计算机辅助制造岗位工程师(简称CAM工程师)在生产资料图形优化的过程中，需要人为判断图形资料是否有存在孤立区域，而人为判断容易存在理解上的偏差，导致没法给出准确的判断结果，而且人工成本较高。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种自动化、准确性高的线路层孤立区域的识别方法、装置、设备及存储介质。

本发明所采用的技术方案是：一种线路层孤立区域的识别方法，包括以下步骤：

将所述线路层按照固定尺寸划分成多个子区域；

分别检测所述多个子区域的残铜率；

根据所述残铜率获取孤立区域。

优选地，所述步骤分别检测所述多个子区域的残铜率具体包括：

计算所述多个子区域的残铜率；

将所述多个子区域的残铜率按照特定方式保存。

优选地，所述特定方式为键值方式，所述键为所述子区域的坐标，所述值为所述子区域的残铜率。

优选地，所述步骤根据所述残铜率获取孤立区域具体包括：

从所述线路层的第一坐标开始，逐个检测子区域的残铜率；

若所述子区域的残铜率小于阈值，则将该子区域的坐标记为初始坐标；

从所述初始坐标开始，若满足第一约束条件，则获取孤立区域并记录初始坐标；

以此类推，直至遍历完所述线路层的所有坐标；

获取最大的孤立区域并记录对应的初始坐标。

优选地，所述第一约束条件为连续两个坐标的子区域的残铜率大于所述阈值。

优选地，所述步骤根据所述残铜率获取孤立区域之后还包括步骤：根据所述最大的孤立区域和和对应的初始坐标画出图形，并显示在电脑端。

一种线路层孤立区域的识别装置，包括：

划分模块，用于将所述线路层按照固定尺寸划分成多个子区域；

检测模块，用于分别检测所述多个子区域的残铜率；

获取模块，用于根据所述残铜率获取孤立区域。

一种线路层孤立区域的识别设备，包括：

至少一个处理器；以及，

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，