[发明专利]扫描模式选择方法、装置、医学成像设备和存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种扫描模式选择方法、装置、医学成像设备和存储介质，其中，扫描模式选择方法包括：获取目标扫描模式以及与目标扫描模式对应的参考扫查参数，其中，扫描模式包括辅助诊断模式、体检模式和教学模式，参考扫查参数根据预设的关键元件参数确定；基于参考扫查参数确定目标扫查参数，并利用目标扫查参数执行与目标扫描模式对应的操作。本发明实施例提高了医学成像设备的工作效率，同时，降低了医学成像设备的关键元件的损耗。

技术领域

本发明实施例涉及医学成像设备技术领域，尤其涉及扫描模式选择方法、装置、医学成像设备和存储介质。

背景技术

随着医学成像技术的发展，医学成像设备的应用越来越广泛。

在使用医学成像设备进行扫描成像时，需要考虑实际的扫描需求，对医学成像设备的参数进行设置或调试，使之满足不同的扫描需求。当前医学成像设备在实际使用时，往往需要有经验的操作者根据实际使用需要，对医学成像设备的工作模式不断进行调试，导致其工作效率较低；此外，由于操作者对设备关键参数的理解有误，往往在使用过程中，忽视了使用习惯对设备造成的影响，从而降低了设备中关键元件的使用寿命。

发明内容

本发明实施例提供扫描模式选择方法、装置、医学成像设备和存储介质，在提高了医学成像设备的工作效率的同时，也降低了关键元件的损耗。

第一方面，本发明实施例提供了一种扫描模式选择方法，应用于医学成像设备，所述方法包括：

获取目标扫描模式以及与所述目标扫描模式对应的参考扫查参数，其中，所述扫描模式包括辅助诊断模式、体检模式和教学模式，所述参考扫查参数根据预设的关键元件参数确定；

基于所述参考扫查参数确定目标扫查参数，并利用目标扫查参数执行与所述目标扫描模式对应的操作。

第二方面，本发明实施例还提供了一种工作流选择装置，所述装置包括：

获取模块，用于获取目标扫描模式以及与所述目标扫描模式对应的参考扫查参数，其中，所述扫描模式包括辅助诊断模式、体检模式和教学模式，所述参考扫查参数根据预设的关键元件参数确定；

工作流执行模块，用于基于所述参考扫查参数确定目标扫查参数，并利用目标扫查参数执行与所述目标扫描模式对应的操作。

第三方面，本发明实施例还提供了一种医学成像设备，所述设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如本发明任一实施例所述的扫描模式选择方法。

第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本发明任一实施例所述的扫描模式选择方法。

本发明实施例通过获取目标扫描模式以及与目标扫描模式对应的参考扫查参数，其中，扫描模式包括辅助诊断模式、体检模式和教学模式，参考扫查参数根据预设的关键元件参数确定；基于参考扫查参数确定目标扫查参数，并利用目标扫查参数执行与目标扫描模式对应的操作，解决了现有在使用医学成像设备时，需要不断进行工作模式调试而造成的工作效率较低，以及在调试过程中由于对设备关键参数的理解有误而造成的设备寿命降低的问题，提高了医学成像设备的工作效率，同时也降低了医学成像设备的关键元件的损耗。

附图说明

图1是本发明实施例一中的扫描模式选择方法的流程图；

图2是本发明实施例二中的扫描模式选择装置的结构示意图；

图3是本发明实施例三中的医学成像设备的结构示意图。