[发明专利]信息处理方法、装置及电子设备

说明书

本申请实施例公开了一种信息处理方法、装置及电子设备，系统初始化阶段，在存储有基本输入输出系统的存储器中的第一存储区域中进行信息读取，得到校验信息以及所述存储器的区域属性信息；根据区域属性信息确定受保护区域；利用校验信息对受保护区域进行校验，以判断受保护区域是否被损毁或被窜改；若判断结果为受保护区域被损毁或被窜改，对基本输入输出系统进行修复，避免基本输入输出系统损毁对电子设备开机的不良影响。

技术领域

本申请涉及电子设备技术领域，更具体地说，涉及一种信息处理方法、装置及电子设备。

背景技术

在电子设备开机启动过程中，基本输入输出系统(Basic Input Output System，BIOS)主要的功能是为电子设备提供最底层的、最直接的硬件设置和控制，若BIOS有所损毁，则电子设备无法开机，此时需要对BIOS进行修复。

发明内容

本申请的目的是提供一种信息处理方法、装置及电子设备，以至少部分的克服现有技术中存在的技术问题。

为实现上述目的，本申请提供了如下技术方案：

一种信息处理方法，包括：

系统初始化阶段，在存储有基本输入输出系统的存储器中的第一存储区域中进行信息读取，得到校验信息以及所述存储器的区域属性信息；根据所述区域属性信息确定第二存储区域；其中，所述第二存储区域为受保护区域；

利用所述校验信息对所述第二存储区域进行校验，以判断所述第二存储区域是否被损毁或被窜改；

若判断结果为所述第二存储区域被损毁或被窜改，对所述基本输入输出系统进行修复。

上述方法，优选的，基板管理控制器在预设时长内未确定所述存储有基本输入输出系统的存储器是否被损毁或被窜改时，在所述第一存储区域中进行信息读取，得到校验信息以及所述存储器的区域属性信息。

上述方法，优选的，所述校验信息包括：所述第二存储区域的特征值，以及密钥；所述利用所述校验信息对所述第二存储区域进行校验包括：

计算所述第二存储区域的第一哈希值；

利用所述密钥对所述特征值进行解密，得到第二哈希值；

若所述第一哈希值与所述第二哈希值相同，确定所述第二存储区域未被损毁和窜改。

上述方法，优选的，若所述第一哈希值与所述第二哈希值不同，确定所述第二存储区域被损毁或被窜改。

上述方法，优选的，在利用所述校验信息对所述第二存储区域进行校验之前，还包括：

将所述密钥与预存储密钥进行比较；

若二者相同，确定所述存储器为合法存储器，利用所述校验信息对所述第二存储区域进行校验；否则，确定所述存储器为非法存储器。

上述方法，优选的，所述密钥为非对称加密算法中的公钥；通过使用所述非对称加密算法中的私钥对所述第二存储区域的哈希值加密得到所述特征值。

一种信息处理装置，包括：

读取模块，用于系统初始化阶段，在存储有基本输入输出系统的存储器中的第一存储区域中进行信息读取，得到校验信息以及所述存储器的区域属性信息；根据所述区域属性信息确定第二存储区域；其中，所述第二存储区域为受保护区域；

校验模块，用于利用所述校验信息对所述第二存储区域进行校验，以判断所述第二存储区域是否被损毁或被窜改；

修复模块，用于若判断结果为所述第二存储区域被损毁或被窜改，对所述基本输入输出系统进行修复。

一种电子设备，包括：