[发明专利]用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法

说明书

本发明涉及一种用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法，其中，将现有技术中由传统测试仪完成的基准电压校准工作改为由本发明的用于基准电压修调的系统中的基准电压修调电路来完成，且将基准电压修调电路集成于需要进行基准电压修调的待测电路内部，简化测试仪的工作内容，令测试仪仅需负责测试信号的输入及对比即可，整个系统中的基准电压校准工作由硬件结构即可完成，无需辅助的测试程序。采用本发明的用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法，由于校准工作均在电路内部执行，因此校准结果受外部干扰影响小，准确度高，具备成本低、结构简单、测试速度高、精度准的优点，易于实现，适用性广泛的特点。

技术领域

本发明涉及电路技术领域，尤其涉及电路校准领域，具体涉及一种用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法。

背景技术

现有技术中包括了模数转换模块的电路中一般均会自带内部基准功能模块，但由于工艺波动影响，集成的内部基准功能模块实际产生的基准电压会在一定范围内波动，为满足实际应用中电压测试精度的要求，现有技术中，一般会考虑对待测电路(该待测电路指包括了模数转换模块的电路)产生的基准电压做修调(可将该需要修调的基准电压称为待修调基准电压)，而现有技术中对于该待修调基准电压的修调一般依靠测试仪来完成，由测试仪根据待修调基准电压产生一个对应的电压修调值，对基准电压进行修调，具体工作主要包含以下步骤：

首先，该待测电路在测试模式下输出待修调基准电压，然后测试仪依托该测试仪内部的模数转换模块完成对测试仪给出的参考电压的采集，确定电压修调值，最后将得到的电压修调值写入待测电路。

上述由测试仪来实现的对待修调基准电压的电压修调值的调校过程中存在以下影响测试效率的因素：

1、待修调基准电压一般负载能力不会特别强，在通过端口输出后增加了引入干扰的风险，可能造成电压测试精度的降低，现有技术中一般考虑采用多次测试取均值的算法来提升精度，但这种算法往往会牺牲测试的时间。

2、参考电压的采集需要测试仪中的模数转换模块(ADC)来完成，这种电压采集的过程中一个模数转换模块在同一时间内仅负责采集一个待测电路产生的待修调基准电压。为了缩短测试时间，节省测试成本，目前集成电路测试一般会选择对多个待测电路同时测量的方式进行测量。

但是在同时对多个待测电路输出的基准电压做修调时，，如果测试卡板上仅有一个模数转换模块，则对于多个待测电路输出的基准电压做修调时，仅能按对于单个待测电路输出的基准电压做修调时所采用的修调方式，对多个待测电路进行轮流测试，这样就会降低测试效率；但要依靠多个模数转换模块实现真正意义的同时对多个待测电路输出的基准电压做修调时，就需要增加测试卡板上模数转换模块数量，但这样一来测试卡板成本就会成倍提高，其中，所述的测试卡板用于连接待测电路和测试仪。

3、不同待测电路产生的基准电压一般会存在差异，因此，所对应的电压修调值也是不同的，即电压修调值写入过程中，测试仪需要根据当前待修调基准电压测试结果，选择合适的电压修调值写入。在现有技术中，这种电压的修调过程中，需要软件参与电压修调值选择，增加了测试程序的复杂程度。也就是说，电压修调值的写入过程，在同时对多个待测电路输出的基准电压做修调时，需要将不同的电压修调值写入对应的各个待测电路，在一定程度上也增加了测试程序的复杂程度。

综上所述，现有技术中由测试仪来实现的基准电压修调存在如下问题：

1、基准电压输出后会受到外界因素干扰，无法兼顾测试精度和速度；

2、在同时对多个待测电路输出的基准电压做修调时，无法兼顾效率和成本问题；

3、电压修调值的选择需要依靠软件介入进行处理，增加了测试程序设计的复杂程度；

4、在同时对多个待测电路进行电压修调值写入的测试过程中会增加测试程序设计的复杂程序。

发明内容