[发明专利]一种基于深度反投影网络的高效超分辨率方法有效
申请号: | 201811637583.3 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109741260B | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 杨爱萍;杨炳旺;王金斌;鲁立宇;何宇清 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G06T3/40 | 分类号: | G06T3/40 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘子文 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 深度 投影 网络 高效 分辨率 方法 | ||
1.一种基于深度反投影网络的高效超分辨率方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)获取训练集和测试集;
(2)对训练集进行预处理完成数据增强;
(3)对训练集和测试集中的图像进行不同尺度的缩放;
(4)基于卷积神经网络实现图像超分重建,卷积神经网络共包含27个卷积层,具体包括特征提取、误差反投影和图像重建三部分;误差反投影部分具体如下:
A.上、下采样模块的设置:
上采样:
下采样:
残差:
残差上采样:
输出特征图:
经过通道加权:
其中*为卷积操作,↑s和↓s为上下采样操作,s为采样的尺度,pt和qt为解卷积操作,gt为标准卷积操作,t表示第几个上采样模块,t=1、2、3,CA表示通道加权模块;
上采样模块以大小为sH×sW的低分辨率特征图Lt-1为输入,并通过解卷积操作将其映射到H×W高分辨率特征图然后通过标准卷积操作将其映射回低分辨率特征图,这一步为反投影操作;之后将输入的低分辨率特征图Lt-1与新得到的低分辨率特征图的残差再映射到高分辨率特征图,得到一个新的残差特征图;最后的输出是两种高分辨率特征图的相加,然后经过通道加权模块,对每个通道赋予权重得到加权后的输出Ht;
下采样模块与上采样模块相似:
下采样:
上采样:
残差:
残差下采样:
输出特征图:
经过通道加权:
其中*为卷积操作,↑s和↓s为上下采样操作,s为采样的尺度,p′t为解卷积操作,g′t为标准卷积操作,k表示第几个下采样模块,k=1、2,CA表示通道加权模块;
下采样模块输入为加权后的大小为H×W高分辨率特征图Hk,输出为加权后的大小为sH×sW低分辨率特征图Lk:然后通过解卷积操作将其映射回高分辨率特征图,这一步为反投影操作;之后将输入的高分辨率特征图Hk与新得到的高分辨率特征图的残差再映射到低分辨率特征图,得到一个新的残差特征图;最后的输出是两种低分辨率特征图的相加,然后经过通道加权模块,对每个通道赋予权重得到加权后的输出Lk;
B.通道加权模块设置:
假设X=[x1,...,xc...,xC]为通道加权模块的输入,其包含C个大小为H×W的特征图,首先进行压缩操作,顺着空间维度进行特征压缩,使用全局池化操作将每个二维特征通道变成一个实数z∈RC,第c个的通道的z值为:
其中xc(i,j)是第c个通道的特征图xc在点(i,j)的值,HGP(·)表示全局池化操作;
接着进行激励操作,其包含两个全连接层,和sigmoid函数,用以建模出特征通道的相关性,为每个通道生成权重:
uc=f(WUδ(WDzc))
其中f(·)和δ(·)分别表示sigmoid函数和ReLU激活函数,WD表示第一个全连接层的权重,将特征图数量降低到输入的1/16,经过ReLU激活后再通过一个权重为WU全连接层增加到原来的数量,之后通过一个Sigmoid的门操作获得0~1之间的归一化权重;在得到最终的通道权重之后,将归一化的权重加权到每个通道的特征上:
其中uc和xc表示第c个通道的权重和特征图,为加权后的输出;
C.解卷积和标准卷积的实现:
解卷积操作具体包含一个组为2的组解卷积层和一个卷积核为1×1的标准卷积层,只在1×1卷积后接ReLU激活函数,其中解卷积的卷积核大小随着尺度的变化而变化,尺度为4时,为8×8,边界零填充为2;尺度为3时为5×5,边界零填充为2,尺度为2时为4×4,边界零填充为1;
标准卷积操作具体包含一个组为2的组标准卷积层和一个卷积核为1×1的标准卷积层,只在1×1卷积后接ReLU激活函数;其中组卷积的卷积核的大小与解卷积卷积核大小相一致;
D.递归网络结构的设置:
第二个下采样模块与第一个下采样模块参数共享,第三个上采样模块与第二个上采样模块参数共享,实现递归调用机制,可描述为:
特征提取:F1(x)=F(x);
上采样:H1=Up1(F1(x));
下采样:L1=Down1(H1);
上采样:H2=Up2(L1);
下采样:L2=Down1(H2);
上采样:H3=Up2(L2);
其中x为输入图像,Up1、Up2分别表示第一个、第二个上采样模块的参数,Down1表示第一个下采样模块参数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学,未经天津大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811637583.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。