[发明专利]半导体装置有效
| 申请号: | 201811625695.7 | 申请日: | 2018-12-28 |
| 公开(公告)号: | CN110557114B | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
| 发明(设计)人: | 李承镐 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号: | H03K19/0185 | 分类号: | H03K19/0185 |
| 代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 许伟群;郭放 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
本申请公开了一种半导体装置。一种半导体装置包括:第一电压检测电路,其被配置为响应于第一电压的电压电平、电流控制信号和第二电压检测信号而产生第一电压检测信号;以及储存和输出电路,其被配置为响应于电压检测信号而产生电力控制信号和电流控制信号。
相关申请的交叉引用
本申请要求2018年5月31日在韩国知识产权局提交的申请号为10-2018-0063012的韩国申请的优先权,该申请通过引用整体合并于此。
技术领域
各种实施例一般涉及半导体集成电路,并且更具体地,涉及半导体装置。
背景技术
开发了一种用来以高速发送/接收更大量数据的半导体装置。
为了正常地以高速发送/接收更大量数据,半导体装置被设计成使得其中使用的电压被分成由发送/接收数据的电路所使用的电压和不发送/接收数据的电路所使用的电压。
半导体装置被设计为基于从多个电压源接收的电压进行操作,并且被开发用来降低其中使用的能量消耗。
发明内容
在一个实施例中,一种半导体装置可以包括第一电压检测电路,其被配置为响应于第一电压的电压电平、电流控制信号和第二电压检测信号而产生第一电压检测信号;以及储存和输出电路,其被配置为响应于电压检测信号而产生电力控制信号和电流控制信号。
在一个实施例中,一种半导体装置可以包括:第一电压检测电路,其被配置为当第一电压的电压电平变得高于第一设置电压电平时将第一电压检测信号使能;第二电压检测电路,其被配置为当第一电压检测信号被使能且第二电压的电压电平变得高于第二设置电压电平时,将第二电压检测信号使能,以及被配置为响应于电流控制信号而将第二电压检测信号禁止;以及储存和输出电路,其被配置为当第二电压检测信号被使能时将电流控制信号使能,以及被配置为通过锁存被使能的第二电压检测信号来产生电力控制信号。
在一个实施例中,一种半导体装置可以包括:第一电压检测电路,其被配置为当第一电压的电压电平变得高于第一设置电压电平时将第一电压检测信号使能;第二电压检测电路,其被配置为当第一电压检测信号被使能并且第二电压的电压电平变得高于第二设置电压电平时将第二电压检测信号使能,并且当第一电压的电压电平变得高于第一设置电压电平且第二电压低于第二设置电压电平时,将第二电压检测信号禁止;以及储存和输出电路,其被配置为当第二电压检测信号被使能时将电流控制信号使能,以及通过锁存被使能的第二电压检测信号来产生电力控制信号。
在一个实施例中,一种半导体装置可以包括:数据输入/输出电路,其被配置为通过接收第一电压来操作;核心电路,其被配置为通过接收第二电压来操作;以及控制电路,其被配置为当第一电压高于第一设置电压且第二电压高于第二设置电压时,输出用于激活数据输入/输出电路的电力控制信号。
附图说明
图1是示出根据实施例的半导体装置的配置图。
图2是示出图1的控制电路的配置图。
图3是示出图2的第一电压检测电路的配置图。
图4是示出图2的第二电压检测电路的配置图。
图5是示出图2的储存和输出电路的配置图。
图6是用于描述图2的控制电路的操作的时序图。
图7是示出根据图1的另一实施例的控制电路的配置图。
图8是示出图7的第二电压检测电路的配置图。
图9是示出图7的储存和输出电路的配置图。
图10是用于描述图7的控制电路的操作的时序图。
具体实施方式
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