[发明专利]一种单比较器的BLDC控制电路的堵转检测方法及系统

权利要求书

1.一种单比较器的BLDC控制电路的堵转检测方法，其特征在于，包含以下步骤：

S2，检测位置信号；

S3，信号值是否发生变化；

判断信号值是否发生变化，若信号值变化了，执行步骤S6，反之执行步骤S8；

S6，翻转次数是否大于堵转限次；

判断翻转次数是否大于堵转限次，若翻转次数大于堵转限次，确认产生堵转现象；反之执行步骤S8；

S8，检测次数是否小于检测限次；

判断检测次数是否小于检测限次，若检测次数小于检测限次，则执行步骤S9；反之则确认产生堵转现象；

S9，维持次数是否大于滤波次数；

判断维持次数是否大于滤波次数，若维持次数大于滤波次数，确认换相；反之，执行步骤S2。

2.根据权利要求1所述的堵转检测方法，其特征在于，所述步骤S2中的检测信号包括周期性读取过零换相检测电路的新型比较器的输出信号，所述检测周期为5~15μs。

3.根据权利要求1所述的堵转检测方法，其特征在于，步骤S2前还包括步骤S1，初始化数据。

4.根据权利要求1所述的堵转检测方法，其特征在于，还包括步骤S4，判断信号值是否符合要求，修改维持次数；所述步骤S4在步骤S3之后，步骤S3判断信号值未发生变化，即执行步骤S4。

5.根据权利要求4所述的堵转检测方法，其特征在于，所述步骤S4具体包含以下步骤：

S41，信号值是否符合要求；

判断信号值是否符合要求，若信号值符合要求，执行步骤S42；反之执行步骤S43；

S42，维持次数加一；

S43，维持次数清零。

6.根据权利要求1所述的堵转检测方法，其特征在于，还包括步骤S5，修改翻转次数与维持次数；所述步骤S5在步骤S3与步骤S6之间，步骤S3判断信号值发生变化，即执行步骤S5；

所述步骤S5具体包含以下步骤，

S51，翻转次数加一；

S52，维持次数清零。

7.根据权利要求5所述的堵转检测方法，其特征在于，还包括步骤S7，检测次数加一；所述步骤S7在步骤S4与步骤S8之间，步骤S6判断翻转次数不大于堵转限次，即执行步骤S7。

8.一种单比较器的BLDC控制电路的堵转检测系统，其特征在于，包括过零换相检测电路和控制器；所述控制器包括处理器和存储器；所述过零换相检测电路的信号输出端接处理器的信号输入端，过零换相检测电路的输入通道控制端接处理器的信号输出端；处理器与存储器进行信息交互；所述存储器储存着权利要求1至7任一项所述的堵转检测方法。

9.根据权利要求8所述的堵转检测系统，其特征在于，所述过零换相检测电路包括新型比较器、6个相线电压采样电阻以及3个比较器参考端电阻，具体电路连接关系如下；第一电阻、第二电阻以及第三电阻的一端分别连接无刷直流电机的三相输出端，第一电阻、第二电阻以及第三电阻的另一端分别连接新型比较器的3个输入通道；第四电阻、第五电阻以及第六电阻的一端分别连接第一电阻、第二电阻以及第三电阻的另一端，第四电阻、第五电阻以及第六电阻的另一端分别接地；第七电阻、第八电阻以及第九电阻的一端分别连接第一电阻、第二电阻以及第三电阻的另一端，第七电阻、第八电阻以及第九电阻的另一端连接在一起，与新型比较器的参考端连接。

10.根据权利要求9所述的堵转检测系统，其特征在于，所述新型比较器带输入通道切换控制电路。