[发明专利]发散角连续可调的中子准直器结构及其标定方法

权利要求书

1.一种发散角连续可调的中子准直器结构，其特征在于，包括：

若干片中子吸收层(2)平行设置，每片中子吸收层(2)的上、下方均固定有调整柱(3)；

调整滑块(4)，为一中空框结构，设置于所述若干片中子吸收层(2)外部；其中，该调整滑块(4)的上、下表面均设置有与所述中子吸收层(2)对应数量的调整槽(5)，各个调整槽(5)之间的间距沿着中子吸收层平行设置的方向呈渐变分布，所述中子吸收层(2)的调整柱(3)伸入所述调整槽(5)内；以及

驱动结构，用于驱动该调整滑块(4)沿着中子吸收层(2)平行设置的方向进行移动，以改变调整柱(3)在调整槽(5)中所处的位置使中子吸收层(2)的间距发生变化，从而实现中子发散角的连续调节。

2.根据权利要求1所述的中子准直器结构，其特征在于，

所述调整滑块(4)安装于滑轨(6)上，可沿着所述滑轨(6)进行移动；

所述调整滑块(4)与一带正反向螺纹丝杠(7)连接，在驱动结构的作用下，所述调整滑块(4)在所述带正反向螺纹丝杠(7)上移动来实现沿着滑轨(6)的移动。

3.根据权利要求2所述的中子准直器结构，其特征在于，

所述滑轨(6)固定于固定支架(8)上；

所述带正反向螺纹丝杠(7)固定于固定支架(8)上；

每片所述中子吸收层(2)安装于中子吸收层边框(1)上，每个中子吸收层边框(1)的上、下方均固定设置有调整柱(3)，所述中子吸收层边框(1)与所述固定支架(8)相连接。

4.根据权利要求1所述的中子准直器结构，其特征在于，还包括：

定位结构，用于所述调整滑块(4)的定位。

5.根据权利要求3所述的中子准直器结构，其特征在于，还包括：

定位结构，用于所述调整滑块(4)的定位；所述定位结构为绝对编码器，该绝对编码器安装于所述固定支架(8)上。

6.根据权利要求1所述的中子准直器结构，其特征在于，还包括：

运动控制系统，通过控制所述驱动结构实现对所述调整滑块(4)的移动控制；以及

数据采集系统，用于采集数据，该数据包括中子发散角信息和所述调整滑块(4)的位置信息。

7.根据权利要求3所述的中子准直器结构，其特征在于，所述驱动结构为伺服电机，该伺服电机安装于所述固定支架(8)上。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的中子准直器结构，其特征在于，所述调整滑块(4)的个数为2，两个调整滑块(4)相对设置，且两个调整滑块(4)上的调整槽(5)分布沿着中子吸收层(2)法线的方向轴对称分布。

9.一种发散角的标定方法，用于标定权利要求1至8中任一项所述的中子准直器结构，其特征在于，包括：

将所述调整滑块(4)移动至某一位置，并记录下所述调整滑块(4)的位置和对应的中子发散角；以及

通过获取所述调整滑块(4)处于不同位置对应的中子发散角，得到该中子准直器结构的发散角与调整滑块(4)位置的对应关系曲线，实现标定。

10.一种发散角的标定方法，用于标定权利要求4或5所述的中子准直器结构，其特征在于，包括：

将所述调整滑块(4)移动至某一位置，并记录下所述调整滑块(4)的位置和对应的中子发散角；以及

通过获取所述调整滑块(4)处于不同位置对应的中子发散角，得到该中子准直器结构的发散角与调整滑块(4)位置的对应关系曲线，实现标定；

其中，通过所述定位结构确定所述调整滑块(4)的位置。

11.一种发散角的标定方法，用于标定权利要求6所述的中子准直器结构，其特征在于，包括：

将所述调整滑块(4)移动至某一位置，并记录下所述调整滑块(4)的位置和对应的中子发散角；以及

通过获取所述调整滑块(4)处于不同位置对应的中子发散角，得到该中子准直器结构的发散角与调整滑块(4)位置的对应关系曲线，实现标定；

其中，通过所述数据采集系统记录所述调整滑块(4)的位置和对应的中子发散角；

通过所述运动控制系统控制所述调整滑块(4)移动至不同位置。