[发明专利]传感器像平面与镜头接口端面平行度检测方法及装置

权利要求书

1.一种传感器像平面与镜头接口端面平行度检测方法，包括步骤A、平面反射镜安置，B、光源照射，C、光影采集捕获，D、平行度测算，其特征在于：具体步骤为

A、平面反射镜安置，把平面反射镜(7)安装在遮光板(5)的后端面上，并调整使平面反射镜(7)的中心点与遮光板(5)的透光孔(5a)处于同一轴线上；

B、照射光线校准，启动光源(3)透过遮光板(5)的透光孔(5a)照射平面反射镜(7)，随后调整光源(3)照射角度，使平面反射镜(7)反射至光影定位显屏(4)上的光斑与光影定位显屏(4)上的出光孔(4a)重合，即遮光板(5)与光源(3)的射出光线垂直，并固定光源(3)；

C、光影采集捕获，取下平面反射镜(7)，把被测相机(9)放置于检测夹具上，启动光源(3)，使被测相机(9)中的图像传感器(10)透过遮光板(5)的透光孔(5a)向光影定位显屏(4)反射光斑，光影采集器(6)则把显示在光影定位显屏(4)上的光斑连同出光孔(4a)拍摄成图像；

D、平行度测算，测算光影采集器(6)拍摄得的图像中光斑中心到出光孔(4a)中心的距离R，量取光影定位显屏(4)到遮光板(5)的距离L，最后利用所取得的R、L数值即可计算得相机像平面与镜头接口端面平行度，结果计算：

式中的Alpha(平行度)为相机图像传感器像平面与镜头接口端面的夹角。

2.根据权利要求1所述的传感器像平面与镜头接口端面平行度检测方法，其特征在于：所述的步骤C中被测相机(9)的镜头接口端面紧贴遮光板(5)，且镜头接口端面与遮光板(5)的透光孔(5a)处于同一轴线上。

3.根据权利要求1所述的传感器像平面与镜头接口端面平行度检测方法，其特征在于：所述的步骤C中被测相机(9)的镜头接口端面与遮光板(5)平面贴紧设置。

4.一种用于检测传感器像平面与镜头端面平行度的装置，其特征在于：包括依次设置于机架(1)上的光源调整架(2)、光影定位显屏(4)、遮光板(5)、平面反射镜(7)和检测夹具(8)，所述光源调整架(2)上设置光源(3)，所述光影定位显屏(4)的中心设置有出光孔(4a)，所述遮光板(5)上对应出光孔(4a)设置透光孔(5a)，出光孔(4a)与透光孔(5a)的轴心线重合，在所述遮光板(5)的上部设置有拍摄镜头指向光影定位显屏(4)的光影采集器(6)。

5.根据权利要求4所述的用于检测传感器像平面与镜头端面平行度的装置，其特征在于：所述的遮光板(5)与光影定位显屏(4)间距设置，二者的间距不小于5cm。

6.根据权利要求4所述的用于检测传感器像平面与镜头端面平行度的装置，其特征在于：所述的透光孔(5a)的孔径不小于光源投射在被测相机图像传感器像平面上的光斑直径。

7.根据权利要求4所述的用于检测传感器像平面与镜头端面平行度的装置，其特征在于：所述的光源(3)为激光器，所述光源(3)的射出光为单一波长，所述的光影定位显屏(4)为对光源波长高漫反射不透明板。

8.根据权利要求4所述的用于检测传感器像平面与镜头端面平行度的装置，其特征在于：所述的出光孔(4a)的孔径不小于激光器发射光口的直径；所述的透光孔(5a)的孔径大于出光孔(4a)的孔径。

9.根据权利要求4所述的用于检测传感器像平面与镜头端面平行度的装置，其特征在于：所述的光源调整架(2)包括光源调节底座(2a)、横向调节架(2c)、纵向调节架(2d)，所述光源调节底座(2a)设置于机架(1)上，所述横向调节架(2c)通过光源滑块(2b)设置于光源调节底座(2a)上，光源滑块(2b)与光源调节底座(2a)滑动配合，光源滑块(2b)能沿光源调节底座(2a)水平往复移动，所述纵向调节架(2d)通过转轴(2e)设置于横向调节架(2c)上，任一转轴(2e)穿出横向调节架(2c)连接旋柄(2f)，转轴(2e)与横向调节架(2c)动配合，转轴(2e)支撑纵向调节架(2d)在横向调节架(2c)上做垂直方向的偏转运动。

10.根据权利要求4所述的用于检测传感器像平面与镜头端面平行度的装置，其特征在于：所述的检测夹具(8)包括检测调节底座(8a)、高度调节杆(8c)、和相机夹具(8d)，所述检测调节底座(8a)设置于机架(1)上，所述高度调节杆(8c)通过检测光源滑块(8b)设置于检测调节底座(8a)上，检测光源滑块(8b)与检测调节底座(8a)滑动配合，检测光源滑块(8b)能沿光源调节底座(2a)水平往复移动，所述相机夹具(8d)设置于高度调节杆(8c)的顶端。