[发明专利]谷值校准的确定方法、电磁加热电路及电磁加热器具

权利要求书

1.一种谷值校准的确定方法，其特征在于，包括：

确定试探信号，所述试探信号包括N个试探脉冲，每个试探脉冲的发出时刻为交流电源信号对应的谷值时刻与校准时长之和，任意两个试探脉冲的发出时刻对应的谷值时刻和校准时长皆不同，N为正整数；

将所述试探信号输入到驱动电路（103）中，以使所述驱动电路（103）生成驱动IGBT（102）导通的驱动信号，所述驱动信号包括宽度相同的N个驱动脉冲，所述N个驱动脉冲的初始时刻分别为所述N个试探脉冲的发出时刻；

根据所述IGBT（102）的N个导通电流中的最小电流，确定与所述最小电流对应的试探脉冲的发出时刻；

确定所述发出时刻对应的校准时长，其中，所述校准时长用于对实测到的交流电源信号对应的谷值时刻进行校准，以使所述驱动电路（103）驱动所述IGBT（102）在漏极电压最低时导通。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定试探信号，包括：

将所述交流电源信号对应的任意一个谷值时刻作为初始时刻；

根据所述交流电源信号的周期，从所述初始时刻起，对所述交流电源信号对应的谷值时刻依次进行估计，得到N个试探时刻；

对所述N个试探时刻依次添加按照从小到大顺序的N个校准时长，得到所述N个试探脉冲的发出时刻；

根据所述N个试探脉冲的发出时刻，确定所述试探信号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据公式一，得到N个试探脉冲的发出时刻：

公式一；

其中，为任意一个试探脉冲的发出时刻，为所述初始时刻，为正整数，且，为所述交流电源信号的半个周期，，为校准时长。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，在根据所述IGBT（102）导通对应的最小电流，确定与所述最小电流对应的试探脉冲的发出时刻之前，所述方法还包括：

在所述N个驱动脉冲的脉冲宽度对应的时间段内，对所述IGBT（102）导通时的电流进行检测，得到N个导通电流；

从所述N个导通电流中选择出所述最小电流。

5.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述IGBT（102）导通对应的最小电流，确定与所述最小电流对应的试探脉冲的发出时刻，包括：

确定与所述最小电流对应的驱动脉冲的初始时刻；

根据所述驱动脉冲的初始时刻，确定对应的试探脉冲的发出时刻。

6.一种电磁加热电路（100），其特征在于，包括：主回路（101）、绝缘栅双极型晶体管IGBT（102）、驱动电路（103）以及微控制单元MCU（104）；

其中，所述MCU（104）的输出端与所述驱动电路（103）的输入端连接，所述驱动电路（103）的输出端与所述IGBT（102）的输入端连接，所述IGBT（102）的输出端与所述主回路（101）的输出端连接；

所述MCU（104），用于获取交流电源信号对应的谷值时刻；

所述MCU（104），还用于确定试探信号，所述试探信号包括N个试探脉冲，每个试探脉冲的发出时刻为所述交流电源信号对应的谷值时刻与校准时长之和，任意两个试探脉冲的发出时刻对应的谷值时刻和校准时长皆不同，N为正整数；

所述MCU（104），还用于将所述试探信号输入到所述驱动电路（103）中，以使所述驱动电路（103）生成驱动IGBT（102）导通的驱动信号，所述驱动信号包括宽度相同的N个驱动脉冲，所述N个驱动脉冲的初始时刻分别为所述N个试探脉冲的发出时刻；

所述MCU（104），还用于在所述N个驱动脉冲的脉冲宽度对应的时间段内，获取所述IGBT（102）的N个导通电流；

所述MCU（104），还用于根据所述N个导通电流中的最小电流，确定与所述最小电流对应的试探脉冲的发出时刻；

所述MCU（104），还用于确定所述发出时刻对应的校准时长，其中，所述校准时长用于对实测到的交流电源信号对应的谷值时刻进行校准，以使所述驱动电路（103）驱动所述IGBT（102）在漏极电压最低时导通。