[发明专利]基于均匀特征点混合描述的图像篡改检测方法有效
申请号: | 201811607107.7 | 申请日: | 2018-12-27 |
公开(公告)号: | CN109727237B | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
发明(设计)人: | 杨红颖;焦丽仙;牛盼盼;王向阳 | 申请(专利权)人: | 辽宁师范大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/10;G06T5/00 |
代理公司: | 大连非凡专利事务所 21220 | 代理人: | 闪红霞 |
地址: | 116000 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 均匀 特征 混合 描述 图像 篡改 检测 方法 | ||
1.一种基于均匀特征点混合描述的图像篡改检测方法,其特征在于按如下步骤进行:
约定:I表示待检测的图像;I1表示去噪后的图像;TA为自适应提点阈值;V指图像I1中检测到的特征点数量;Ki,j表示每一子块Si,j内的特征点数,K中存放自适应提取的所有特征点;Tψ为控制子块特征点数量的阈值;O为存放均匀性处理后的特征点的矩阵;N表示特征点的个数;FN表示用于存放所有FRIF特征信息的矩阵;DN为距离以升序排列的近邻点;n为预设的近邻点个数;TRg2NN指特征匹配阈值;Tη为控制相匹配的超像素块数量的阈值;
a.初始设置
获取大小为M×N的待检测图像I并进行预处理,得到图像I1;
b.自适应提取特征点
b.1将图像I1进行不重叠分块,分割成尺寸为n×n图像子块Si,j;
b.2使用FALoG检测器提取特征点,设置初始提点阈值TA=10,迭代次数w=1;
b.3计算标准特征点数量
b.4设置均匀性阈值τ=0.5,计算特征点均匀性测量值Φ:
b.5如果Φτ或w3,则输出矩阵K,否则TA→TA×10%,w→w+1,重复步骤b.2~b.5;
c.特征点均匀性处理
c.1对于图像子块Si,j中的特征点,根据响应强度对其进行降序排列并存于临时矩阵Q={(x1,y1),(x2,y2),...(xKi,j,yKi,j)}中;
c.2若特征点的数目Ki,jTψ,Tψ=6,则取Q中前Tψ个点并将其输出至矩阵Oi,j,否则Q中的点全部输出;
c.3如果所有的子块Si,j都被测试,则输出均匀性处理后的所有点,即O=O∪Oi,j,否则,返回步骤c.1,选择下一个子图像块;
d.基于FRIF的特征构造
对于存放在矩阵O中所有检测到的特征点,使用FRIF结合局部采样模式和模式间信息来构造混合的64位二进制描述符;
e.基于Rg2NN的特征匹配
e.1为提取到的特征矩阵FN建立KD树;
e.2利用快速近似最近邻算法检索查询点xi,1≤i≤N,的近似最近邻,将其按照距离升序排列,得到
e.3通过Rg2NN算法从近邻点中找到xi的匹配点,即逆序计算距离之间的比值:
如果T(i,n-j+1)≥TRg2NN且T(i,n-j)TRg2NN,则第i点和距其{di1,di2,…,di(n-j-1)}的n-j-1个特征点均相似,其中,TRg2NN=0.6;
f.后处理
f.1利用SLIC算法分割输入图像I=Seg1,Seg2,...,Segn;
f.2获取与候选的匹配点对(xi,yi)、(xj,yj)相对应的超像素块对Segi、Segj;
f.3删除匹配数较少的块对,即当匹配块数Num(Segi,Segj)≥Tη,Tη=3,则保留相应的点对;
f.4在粗除后的配对中,利用RANSAC方法询正确的匹配对;
f.5利用NNPROD函数定位重复的区域;
f.6使用形态学操作去除面积小于图像0.02%的所有孤立区域,并填充合并二进制图像中的“空洞”,最终在篡改的图像上进行彩色标记。
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