[发明专利]TOF测距幅值的计算方法及TOF测距系统有效
| 申请号： | 201811603329.1 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN109541622B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 彭莎;彭杰 | 申请（专利权）人： | 豪威科技（武汉）有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/36 | 分类号： | G01S17/36 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑星 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市东湖高*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | tof 测距 计算方法 系统 | ||
1.一种TOF测距幅值的计算方法，其特征在于，包括：
采用调制光波照射至少一个对象并获取反射光波；
获取所述反射光波在4个二分之一周期内的光电荷积分值，且4个所述光电荷积分值的起始积分相位顺次相差四分之一周期；
根据4个所述光电荷积分值得到所述反射光波的修正系数；
根据4个所述光电荷积分值及所述修正系数计算出TOF测距幅值；
根据4个所述光电荷积分值Q0、Q1、Q2及Q3及所述修正系数ξ利用如下公式计算出TOF测距幅值系数K：
当所述调制光波为方波时，所述反射光波的修正系数ξ为：
2.如权利要求1所述的TOF测距幅值的计算方法，其特征在于，4个所述光电荷积分值Q0、Q1、Q2及Q3分别为所述反射光波在及内的光电荷积分值，其中，T为所述反射光波的周期。
3.如权利要求1所述的TOF测距幅值的计算方法，其特征在于，所述TOF测距幅值系数K的数值等于所述TOF测距幅值的数值的两倍。
4.如权利要求2所述的TOF测距幅值的计算方法，其特征在于，当所述调制光波为正弦波时，所述反射光波的修正系数为1。
5.如权利要求4所述的TOF测距幅值的计算方法，其特征在于，所述TOF测距幅值系数K的数值等于所述TOF测距幅值的数值的四倍。
6.如权利要求1所述的TOF测距幅值的计算方法，其特征在于，所述TOF测距幅值的数值用于表征所述反射光波的信噪比及所述调制光波测距结果的置信度。
7.一种TOF测距系统，其特征在于，包括光源模块、光探测模块及计算模块，所述光源模块发出一调制光波并照射至少一个对象，所述光探测模块接收所述对象反射的反射光波，所述计算模块根据所述反射光波计算起始积分相位顺次相差四分之一周期的二分之一周期内的4个光电荷积分值以得到所述反射光波的修正系数，且所述计算模块还根据4个所述光电荷积分值及所述修正系数计算出TOF测距幅值；
其中，根据4个所述光电荷积分值Q0、Q1、Q2及Q3及所述修正系数ξ利用如下公式计算出TOF测距幅值系数K：
当所述调制光波为方波时，所述反射光波的修正系数ξ为：
8.如权利要求7所述的TOF测距系统，其特征在于，所述光探测模块包括若干阵列分布的探测区域，4个所述光电荷积分值为同一个探测区域上的光电荷的积分值，以使所述TOF测距幅值对应该探测区域的TOF测距幅值。
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