[发明专利]偏振相关损耗的确定方法、检测系统及光信号传输结构

说明书

本申请公开了一种偏振相关损耗的确定方法、检测系统及光信号传输结构，属于光通信技术领域。应用于包括光器件的检测系统，方法包括：获取第一时长内的两组光功率；在两组光功率中筛选至少一组符合相同功率约束条件的目标光功率，每组目标光功率包括分别来自两组光功率中的第一目标功率和第二目标功率；基于至少一组目标光功率，确定光器件的偏振相关损耗PDL。由于本申请实施例提供的PDL的确定方法中，在保证光器件自身功能的基础上，还可以确定该光器件的PDL，达到了能够准确检测出该光器件的PDL的效果。

技术领域

本申请涉及光通信技术领域，特别涉及一种偏振相关损耗的确定方法、检测系统及光信号传输结构。

背景技术

随着科技的发展，光纤通信已成为光通信技术领域中的主要传输方式。光纤通信的传输链路(也称光信号传输链路)中配置有大量的光器件，例如掺铒光纤放大器(Erbium-doped Optical Fiber Amplifer，EDFA)和波长选择开关(Wavelength Selective Switch，WSS)。光器件由于具有偏振相关损耗(英文：Polarization Dependent Loss；缩写：PDL)，易导致光信号在通过该光器件时发生畸变，影响光纤通信的传输性能。

相关技术中提供了一种光信号PDL的检测装置，该检测装置可以实现一种光信号PDL的检测方法，在光信号的传输过程中，该光信号经过该检测装置。该PDL的检测装置包括依次设置的光学信号分离器、偏振分离器、光电检测器以及数字信号处理器。当光信号经过该检测装置后，该检测装置可以检测光信号所受到的PDL。

但是，相关技术中的光信号PDL的检测装置仅可以检测出光信号的PDL，而难以检测出该光信号所经过的光器件的PDL。因此，亟需一种能够准确检测出光器件的PDL的方法。

发明内容

本申请提供了一种偏振相关损耗的确定方法、检测系统及光信号传输结构，可以确定光器件的PDL，本申请提供的技术方案如下：

第一方面，本申请示例性实施例提供了一种偏振相关损耗的确定方法，应用于包括光器件的检测系统，所述方法包括：

获取第一时长内的两组光功率，所述第一时长内的两组光功率中均存在符合相同功率约束条件的光功率，所述两组光功率为所述光器件的两个偏振主轴的光路输出功率，或者，所述两组光功率为第一光信号输入所述光器件的输入功率和所述第一光信号输出所述光器件的输出功率，所述第一光信号为输入至所述光器件的光信号中任一波长的信号，且所述第一光信号为偏振复用信号中的任一偏振信号或者所述第一光信号为单偏振信号；

在所述两组光功率中筛选至少一组符合所述相同功率约束条件的目标光功率，每组所述目标光功率包括分别来自所述两组光功率中的第一目标功率和第二目标功率；

基于至少一组所述目标光功率，确定所述光器件的偏振相关损耗PDL。

由于本申请实施例提供的PDL的确定方法中，由于能够在获取的两组光功率中筛选至少一组符合相同功率约束条件的目标光功率，并基于至少一组目标光功率，确定光器件的PDL，实现了光器件的PDL的准确确定。

可选的，所述两组光功率为所述光器件的两个偏振主轴的光路输出功率，则所述获取第一时长内的两组光功率，包括：

将输入至所述光器件的光信号分离为第一偏振信号和第二偏振信号，所述第一偏振信号和所述第二偏振信号的偏振方向垂直；

将所述第一偏振信号转换得到第三偏振信号，所述第三偏振信号和所述第二偏振信号的偏振方向相同；

在所述第一时长内，检测所述第三偏振信号中指定能量比例的信号的第一输出功率，检测所述第二偏振信号中所述指定能量比例的信号的第二输出功率，所述两组光功率为所述第一输出功率和所述第二输出功率。

作为一种可实现方式，所述光器件包括交换引擎和功率检测端口，