[发明专利]太赫兹光谱测试设备及系统

权利要求书

1.一种太赫兹光谱测试设备，其特征在于，所述设备包括：飞秒光纤激光器、太赫兹发射装置、样品悬浮装置和太赫兹探测装置，所述样品悬浮装置设置于所述太赫兹发射装置和所述太赫兹探测装置之间，所述太赫兹探测装置连接至外部信号处理电路，

所述飞秒光纤激光器用于产生泵浦光和探测光，将所述泵浦光发射至所述太赫兹发射装置，将所述探测光发射至所述太赫兹探测装置；所述太赫兹发射装置用于根据所述泵浦光产生太赫兹波，并将所述太赫兹波发射至所述样品悬浮装置；所述样品悬浮装置用于将待测样品悬浮设置，使得所述太赫兹波辐射所述待测样品；所述太赫兹探测装置用于接收所述探测光和所述太赫兹波，并将所述太赫兹波和所述探测光发射至外部信号处理电路。

2.根据权利要求1所述的太赫兹光谱测试设备，其特征在于，所述太赫兹发射装置包括光学延迟线、第一光纤耦合器和太赫兹发射天线，所述第一光纤耦合器与所述太赫兹发射天线通过光纤连接，

所述光学延迟线用于接收所述泵浦光，并对所述泵浦光进行时间延迟后，经所述第一光纤耦合器发送至太赫兹发射天线；所述太赫兹发射天线用于产生太赫兹波，并将所述太赫兹波发射至所述样品悬浮装置。

3.根据权利要求2所述的太赫兹光谱测试设备，其特征在于，所述光学延迟线包括音圈电机、第一反射镜和第二反射镜，所述第一反射镜与所述第二反射镜相对设置于所述音圈电机。

4.根据权利要求2所述的太赫兹光谱测试设备，其特征在于，所述太赫兹发射装置还包括第三反射镜、第四反射镜和第一离轴抛物面镜，

所述第三反射镜和所述第四反射镜设置于所述飞秒光纤激光器与所述光学延迟线之间的光路上，用于将所述泵浦光反射至所述光学延迟线；所述第一离轴抛物面镜设置于所述太赫兹发射天线与所述样品悬浮装置之间的光路上，用于将所述太赫兹波反射至所述待测样品。

5.根据权利要求1所述的太赫兹光谱测试设备，其特征在于，所述样品悬浮装置为超声悬浮仪。

6.根据权利要求5所述的太赫兹光谱测试设备，其特征在于，所述超声悬浮仪的腔壁上设置有气体接入口。

7.根据权利要求5所述的太赫兹光谱测试设备，其特征在于，所述太赫兹探测装置包括第二光纤耦合器、第二离轴抛物面镜和太赫兹接收天线，所述第二光纤耦合器与所述太赫兹接收天线通过光纤连接，所述太赫兹接收天线用于连接外部信号处理电路，

所述第二光纤耦合器用于接收所述探测光，并将所述探测光发送至所述太赫兹接收天线；所述第二离轴抛物面镜用于将所述太赫兹波反射至所述太赫兹接收天线；所述太赫兹接收天线用于接收所述太赫兹波和所述探测光并发送至外部信号处理电路。

8.根据权利要求7所述的太赫兹光谱测试设备，其特征在于，所述第一离轴抛物面镜与所述第二离轴抛物面镜的公共焦点位于所述样品悬浮装置内部，所述待测样品悬浮设置于公共焦点处。

9.根据权利要求7所述的太赫兹光谱测试设备，其特征在于，太赫兹探测装置还包括第五反射镜和第六反射镜，

所述第五反射镜和所述第六反射镜设置于所述飞秒光纤激光器与所述第二光纤耦合器之间的光路上，用于将所述探测光反射至所述第二光纤耦合器。

10.一种太赫兹光谱测试系统，其特征在于，所述系统包括信号处理电路和权利要求1-9任一项所述的太赫兹光谱测试设备，所述信号处理电路连接所述太赫兹探测装置。