[发明专利]一种修复DDR物理损坏的方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明提供一种修复DDR物理损坏的方法、装置、设备及存储介质，用于解决现有技术修复DDR物理损坏效率低、成本高的技术问题。方法包括：在该终端设备上电后，扫描该DDR的所有存储单元，确定出该DDR中存在物理损坏的若干个物理损坏存储单元，并获取该若干个物理损坏存储单元的物理地址；判断该若干个物理损坏存储单元是否能够修复；若为是，则将该若干个物理损坏存储单元的物理地址存储到闪存的预设分区；重新启动该终端设备，使得该终端设备重新上电，并在上电后的第一阶段基于该闪存的预设分区中存储的物理地址对该若干个物理损坏存储单元进行修复。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种修复DDR物理损坏的方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着科技的发展，诸如计算机、手机、平板电脑等终端设备为人们日常生活中最常使用来处理及记录数据的装置。在终端设备中，内存扮演着重要的角色，驱动程序或应用程序等数据必需加载到内存，再由中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)进行存取及执行数据。双倍速率同步动态随机存储器(Double Data Rate SDRAM，DDR)是目前最为主流的内存规范之一，各大芯片组厂商的主流产品全部是支持它的。

在现有技术中，DDR中存储单元发生物理损坏后，必须要将DDR从终端设备中拆卸下来，然后通过DDR芯片产商的专用修复平台对DDR进行物理损坏的检查或修复，修复效率低，且成本高。

发明内容

本发明实施例提供一种修复DDR物理损坏的方法、装置、设备及存储介质，用于解决现有技术修复DDR物理损坏效率低、成本高的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供一种修复双倍速率同步动态随机存储器DDR物理损坏的方法，应用于终端设备，所述方法包括：

在所述终端设备上电后，扫描所述DDR的所有存储单元，确定出所述DDR中存在物理损坏的若干个物理损坏存储单元，并获取所述若干个物理损坏存储单元的物理地址；

判断所述若干个物理损坏存储单元是否能够修复；

若为是，则将所述若干个物理损坏存储单元的物理地址存储到闪存的预设分区；重新启动所述终端设备，使得所述终端设备重新上电，并在上电后的第一阶段基于所述闪存的预设分区中存储的物理地址对所述若干个物理损坏存储单元进行修复；

否则，重新启动所述终端设备，使得所述终端设备重新上电，并在上电后的第二阶段通过所述终端设备的显示界面显示所述若干个物理损坏存储单元不能修复的信息。

本实施方式对终端设备中的DDR物理损坏的检测和修复过程，全部由终端设备自身完成，不需要将DDR从终端设备中拆卸，也不需要依赖DDR芯片产商的专用修复平台对进行检查和修复，提高了DDR物理损坏的修复效率，节约了修复成本；其次，在确定DDR物理损坏能够修复时，将若干个物理损坏存储单元的物理地址存储到闪存的预设分区，以保证终端设备在重启后仍能确定若干个物理损坏存储单元的物理地址，进一步提高修复的速率和可靠性；不仅如此，在确定DDR物理损坏不能够修复时，在重启过程中显示不能修复的信息，使得技术人员能够获知该DDR的物理损坏不能被修复，提高了用户体验。

可选的，判断若干个物理损坏存储单元是否能够修复，具体包括：

根据DDR的厂家标识判断是否存在与DDR的物理损坏所对应的修复方案；

若为是，则确定若干个物理损坏存储单元能够修复；

否则，确定若干个物理损坏存储单元不能够修复。

本实施方式根据DDR的厂家标识确定DDR的物理损坏是否能够修复，保证了DDR物理损坏修复的可靠性。

可选的，在显示所述若干个物理损坏存储单元不能修复的信息之后，所述方法还包括：