[发明专利]一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法及装置有效

专利信息
申请号: 201811591035.1 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN109671081B 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 郭慧;姚毅 申请(专利权)人: 凌云光技术股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06F16/22;G06F16/23
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 100094 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 fpga 查找 统计 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法,其特征在于,所述方法包括:

获取图像传感器的平场图像;

将所述平场图像进行坏点检测处理,输出坏点位置数据;

利用基于连通域的扫描法根据所述坏点位置数据对所述坏点进行一次扫描处理,得到一次扫描数据;

根据所述一次扫描数据创建原查找表;

对所述一次扫描数据进行合并处理,得到合并扫描数据;

根据所述合并处理数据对所述查找表进行更新处理,得到更新后的查找表;

判断所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容是否一致;

如果所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容一致,则以所述更新后的查找表内容为索引,如果所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容不一致,则重复所述对所述一次扫描数据进行合并处理,直至所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容一致,得到最终查找表;

根据所述最终查找表统计坏簇数量;

所述将所述平场图像进行坏点检测处理包括:

坏点标记为1,正常像素点标记为0;

所述利用基于连通域的扫描法根据所述坏点位置数据对所述坏点进行一次扫描处理包括:

定义像素点位置为D[H,W],用H表示所述像素点所处的行数,用W表示所述像素点所处的列数;

定义坏簇的打标记号为label_num、所述坏点位置数据为Label1、所述一次扫描数据为Label2、查找表为equal_label;

初始化label_num=1、Label2(D[H,W])=0以及equal_label[n]=n,其中n=1,2,…N,用N表示坏簇的预估值;

根据所述坏点位置数据,判断Label1(D[H,W])是否等于1,如果Label1(D[H,W])等于1,则判断Label2(D[H,W-1])和Label2(D[H-1,W+1])的大小,如果Label2(D[H,W-1])和Label2(D[H-1,W+1])都大于1,则取两者中的小值赋值给Label2(D[H,W]),如果两者仅有一个大于1,则将大于1的值赋值给Label2(D[H,W]);

如果Label2(D[H,W-1])和Label2(D[H-1,W+1])都等于零,则判断Label2(D[H-1,W-1])是否大于1,如果Label2(D[H-1,W-1])大于1,则将Label2(D[H-1,W-1])的值赋值给Label2(D[H,W]),如果Label2(D[H-1,W-1])小于或者等于1,则判断Label2(D[H-1,W])是否大于1,如果Label2(D[H-1,W])大于1,则将Label2(D[H-1,W])的值赋给Label2(D[H,W]),如果Label2(D[H-1,W])小于或等于1,则判断Label1(D[H,W+1])、 Label1(D[H+1,W-1])、Label1(D[H+1,W])以及 Label1(D[H+1,W+1])的总和是否等于零,如果Label1(D[H,W+1])、Label1(D[H+1,W-1])、 Label1(D[H+1,W])以及 Label1(D[H+1,W+1])的总和等于零,则将Label1(D[H,W])的值赋值给Label2(D[H,W]);

如果Label1(D[H,W+1])、 Label1(D[H+1,W-1])、 Label1(D[H+1,W])以及 Label1(D[H+1,W+1])的总和不等于零,则将label_num+1赋值给Label2(D[H,W]);

所述对所述一次扫描数据进行合并处理包括:

判断Label2(D[H,W])是否大于1,如果Label2(D[H,W])大于1,则判断Label2(D[H+1,W])和Label2(D[H+1,W+1])的大小,如果Label2(D[H+1,W])和Label2(D[H+1,W+1])均大于1,则取两者中的小值赋值给equal_label{ Label2(D[H,W])},如果Label2(D[H+1,W])和Label2(D[H+1,W+1])只有一个值大于1,则将Label2(D[H+1,W])和Label2(D[H+1,W+1])两者中大于1的值赋给equal_label{ Label2(D[H,W])};

如果Label2(D[H+1,W])和Label2(D[H+1,W+1])均等于零,则判断Label2(D[H,W+1])是否大于1,且Label2(D[H,W+1])是否小于Label2(D[H,W]),如果Label2(D[H,W+1])大于1,且Label2(D[H,W+1])小于Label2(D[H,W]),则将Label2(D[H,W+1])的值赋值给equal_label{ Label2(D[H,W])},如果Label2(D[H,W+1])等于零,或Label2(D[H,W+1])大于或等于Label2(D[H,W]),则保持equal_label{ Label2(D[H,W])}的值不变;

所述坏簇统计方法还包括,定义二次扫描数据为Label3,初始化Label3(D[H,W])=0,根据所述最终查找表对所述合并扫描数据进行二次扫描处理,包括:判断Label2(D[H,W])是否大于等于1,如果Label2(D[H,W])大于等于1,则将equal_label{ Label2(D[H,W])}的值赋值给Label3(D[H,W]),如果Label2(D[H,W])小于1,则将Label2(D[H,W])的值赋值给Label3(D[H,W]),得到所述二次扫描数据。

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