[发明专利]一种低成本高精度的雷达方位测量方法

权利要求书

1.一种低成本高精度的雷达方位测量方法，其特征在于，所述方法包括：

配置光电码盘的步骤，在码盘外缘依次间隔地设置若叶片，各叶片间形成了供光线穿过的窗口；所述叶片和窗口是均匀分布的，叶片和窗口的尺寸相同；

角度配置的步骤，根据码盘的叶片数量确定每一叶片所对应的角度值，细分后的角度A为：

A＝360°/N；

其中，N为码盘分度，其为叶片数量的两倍；

方位测量的步骤，分别记录目标的出现角度值C_in和消失角度值C_out，并根据目标出现和目标消失的角度的中间角来进一步确认目标的精确角度C_T，

C_T＝(C_in+C_out)/2

其中，C_in为目标出现角度，C_out为目标消失角度；

所述角度配置的步骤还进一步包括角度细分的步骤，

角度细分的还包括细分值，在一个码盘分度里多次采样，而将分度值成倍地提高；再次细分后的角度B为：

B＝A/Ns

其中，细分值Ns为每个A角度内采样次数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述细分值为2～6。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述码盘的分度值为50～150。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述码盘为简易码盘。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述码盘为带有零位的码盘，其呈圆形，圆心与天线转轴固定，边缘设置有叶片和窗口。