[发明专利]频率合成器及其频率合成方法在审
申请号: | 201811589541.7 | 申请日: | 2018-12-25 |
公开(公告)号: | CN111313894A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 钟丰旭 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | H03L7/185 | 分类号: | H03L7/185 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王珊珊 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 频率 合成器 及其 合成 方法 | ||
1.一种频率合成器,包括:
抖动清除锁相环,被配置为接收参考时钟与混合信号,并基于所述参考时钟以及所述混合信号来抑制所述参考时钟的抖动以产生第一振荡信号;
分数锁相环,被配置为接收所述参考时钟,并基于所述参考时钟产生第二振荡信号;
混频器,耦接到所述抖动清除锁相环与所述分数锁相环,所述混频器被配置为对所述第一振荡信号与所述第二振荡信号进行混频以产生所述混合信号;以及
射频锁相环,耦接到所述抖动清除锁相环,所述射频锁相环被配置为接收所述第一振荡信号,并基于所述第一振荡信号产生输出信号。
2.根据权利要求1所述的频率合成器,其中所述频率合成器进一步包括:
三角积分调制器,耦接到所述分数锁相环,所述三角积分调制器被配置为对从所述分数锁相环接收到的反馈信号进行调制以产生调制信号,并将所述调制信号传输到所述分数锁相环。
3.根据权利要求1所述的频率合成器,其中所述抖动清除锁相环包括:
相位频率检测器,被配置为接收所述参考时钟与反馈信号,并将所述参考时钟与所述反馈信号进行比较以产生相位差信号;
电荷泵,耦接到所述相位频率检测器,所述电荷泵被配置为对所述相位差信号进行充电以产生充电信号;
低通滤波器,耦接到所述电荷泵,所述低通滤波器被配置为对所述充电信号进行滤波以产生控制信号;以及
压控振荡器,耦接在所述低通滤波器与所述混频器之间,所述压控振荡器被配置为接收所述控制信号,并根据所述控制信号产生所述第一振荡信号。
4.根据权利要求3所述的频率合成器,其中所述抖动清除锁相环进一步包括:
分频器,耦接在所述混频器与所述相位频率检测器之间,所述分频器被配置为对所述混合信号进行分频以产生所述反馈信号。
5.根据权利要求3所述的频率合成器,其中所述压控振荡器是压控晶体振荡器,所述压控晶体振荡器抑制由所述控制信号所引起的相位噪声以产生所述第一振荡信号。
6.根据权利要求2所述的频率合成器,其中所述分数锁相环包括:
相位频率检测器,被配置为接收所述参考时钟与反馈信号,并将所述参考时钟与所述反馈信号进行比较以产生相位差信号;
电荷泵,耦接到所述相位频率检测器,所述电荷泵被配置为对所述相位差信号进行充电以产生充电信号;
低通滤波器,耦接到所述电荷泵,所述低通滤波器被配置为对所述充电信号进行滤波以产生控制信号;以及
压控振荡器,耦接在所述低通滤波器与所述混频器之间,所述压控振荡器被配置为接收所述控制信号,并根据所述控制信号产生所述第二振荡信号。
7.根据权利要求6所述的频率合成器,其中所述分数锁相环进一步包括:
分数分频器,耦接在所述压控振荡器与所述相位频率检测器之间,所述分数分频器被配置为接收所述第二振荡信号以及所述调制信号,并基于所述第二振荡信号与所述调制信号对所述第二振荡信号进行分数分频以产生所述反馈信号。
8.根据权利要求6所述的频率合成器,其中所述压控振荡器是压控晶体振荡器,所述压控晶体振荡器抑制由所述控制信号引起的相位噪声以产生所述第二振荡信号。
9.根据权利要求1所述的频率合成器,其中所述射频锁相环包括:
相位频率检测器,耦接到所述抖动清除锁相环,所述相位频率检测器被配置为接收所述第一振荡信号与反馈信号,以及将所述第一振荡信号与所述反馈信号进行比较以产生相位差信号;
电荷泵,耦接到所述相位频率检测器,所述电荷泵被配置为对所述相位差信号进行充电以产生充电信号;
低通滤波器,耦接到所述电荷泵,所述低通滤波器被配置为对所述充电信号进行滤波以产生控制信号;以及
射频压控振荡器,耦接到所述低通滤波器,所述射频压控振荡器被配置为接收所述控制信号,并根据所述控制信号产生所述输出信号。
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