[发明专利]一种用于氮化镓生长的工艺方法在审
申请号: | 201811586320.4 | 申请日: | 2018-12-25 |
公开(公告)号: | CN109686652A | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 赵杰;徐涛 | 申请(专利权)人: | 天津市耀宇科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300000 天津市东丽区华*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化镓 缓冲层 生长 预处理 退火 表面洁净度 衬底表面 氮气吹干 去离子水 有机溶液 衬底片 氮极性 黑白点 洁净度 镓极性 形变 无色 衬底 冲淋 手印 酸碱 沾污 擦拭 背面 穿透 浸泡 合格率 升华 优化 | ||
1.一种用于氮化镓生长的工艺方法,其特征在于包括以下步骤;
步骤1)、预处理:
S1、采用有机试剂对衬底表面进行擦拭清理;
S2、将清理干净的衬底放入加热后的腐蚀液中浸泡,10分钟后经去离子水冲洗并采用氮气吹干处理;
S3、将吹干的衬底放入温度在1000℃的真空室中,在氢气气氛下进行退火处理。
步骤2)、生长:
A1、衬底在高温下生长成核层;
A2、在成核层的表面上高温生长第一层氮化镓缓冲层,温度控制在1050±20度;
A3、在氢气的气氛中烘烤2-8分钟将第一层氮化镓缓冲层中的氮极性氮化镓完全升华,留下镓性氮化镓;
A4、降低温度,在衬底上继续生产第二层氮化镓缓冲层,温度控制在500-600度;
A5、进行三维生长,生长温度控制在1000±20度,时间控制在25分钟以内;
A6、对三维生长后的氮化镓进行二维生长,温度控制在1100±20度,同时时间控制在20分钟以内;
A7、在氢气气氛中退火,冷却后取出后得到成品。
2.根据权利要求1所述的一种用于氮化镓生长的工艺方法,其特征在于,所述步骤1)中的衬底采用氧化铝材质的构件,其厚度为600μm。
3.根据权利要求1所述的一种用于氮化镓生长的工艺方法,其特征在于,所述步骤1)中腐蚀液采用氢气SO4和H3PO4混合而成,两者之间的比例为3:1。
4.根据权利要求1所述的一种用于氮化镓生长的工艺方法,其特征在于,所述步骤1)中真空室的真空度为10-2Pa,预处理时间控制在30分钟。
5.根据权利要求1所述的一种用于氮化镓生长的工艺方法,其特征在于,所述步骤2)中的成核层的生长温度控制在650度,并且成核层的厚度为50nm。
6.根据权利要求1所述的一种用于氮化镓生长的工艺方法,其特征在于,所述步骤2)中第一层氮化镓缓冲层的厚度为20-40nm,第二层氮化镓缓冲层的厚度为15-25nm。
7.根据权利要求1所述的一种用于氮化镓生长的工艺方法,其特征在于,所述步骤2)中的退火温度控制在1040±20度,时间持续8分钟。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造