[发明专利]一种利用快速蒙特卡洛方法实现电路优化的方法

说明书

一种利用快速蒙特卡洛方法实现电路优化的方法，包括以下步骤：1）设置电路设计规格；2）设置电路优化列表；3）设置快速蒙特卡洛分析选项并进行分析；4）显示优化结果。本发明依托快速蒙特卡洛分析，依据限定条件对电路设计进行优化，在提高验证覆盖率的同时实现了电路优化。

技术领域

本发明涉及EDA工具中电路设计领域，特别涉及一种利用快速蒙特卡洛方法实现电路优化的方法，用以实现电路的快速可靠性仿真，并提供电路优化方案。

背景技术

随着工艺演进，工艺偏差（process variation）变得愈发显著，严重影响了芯片设计的质量和成品率。为保证设计的良率，蒙特卡洛（Monte Carlo）分析已成为设计验证中的必须环节。然而，传统的Monte Carlo分析方法需要大量的仿真采样来做统计分析，但仿真的过程太慢，如果想达到优化电路的效果，将会消耗更长时间，迭代周期较长，设计者往往等不及，只能获取部分结果，验证覆盖率达不到要求，更不能实现更好的优化。

在类似于运算放大器的设计，往往需要对增益、带宽、相位裕度和功耗这些参数折中优化。在传统的设计验证中，往往由于验证无法全面覆盖而采取牺牲一些功耗指标来满足运算放大器的增益、带宽、PM的需求，这样至少可以保证运算放大器的性能是满足系统需求的。但对于一些特性场合，比如IoT应用，功耗要求就更加严格，功耗的增加同样是系统无法接受。

基于以上情况，本发明应运而生，依托快速蒙特卡洛（Fast Monte Carlo）分析，依据限定条件对电路设计进行优化，在提高验证覆盖率的同时实现了电路优化。

发明内容

为了解决现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种利用快速蒙特卡洛方法实现电路优化的方法，迭代产生一组快速蒙特卡洛分析结果、符合电路设计规格的器件参数，提高验证覆盖率的同时实现了电路优化，提高了芯片设计的质量和成品率。

为实现上述目的，本发明提供的利用快速蒙特卡洛方法实现电路优化的方法，包括以下步骤：

1）设置电路设计规格；

2）设置电路优化列表；

3）设置快速蒙特卡洛分析选项并进行分析；

4）显示优化结果。

进一步地，所述电路设计规格包括运算放大器中的带宽、增益、相位裕度和MOS管电流。

进一步地，步骤2）所述设置电路优化列表，是根据器件对电路性能的影响程度，设置电路优化列表。

进一步地，步骤3）所述设置快速蒙特卡洛分析选项的步骤，包括，设置3 sigma标准；计算process和mismatch概率分布函数。

更进一步地，所述步骤3）进行快速蒙特卡洛分析，包括以下步骤，

进行趋势判断，并分析模型中的蒙特卡洛因子与所述趋势的关系；

判断蒙特卡洛因子偏向某个方向会使设计更趋于电路设计规格或者更偏离电路设计规格；

通过EDA工具选定特定的因子进行电路分析，从而加速整个优化过程。

为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行上述的利用快速蒙特卡洛方法实现电路优化的方法的步骤。

本发明提供设置电路设计规格的选项，电路优化器件列表，快速蒙特卡洛分析设置选项，依据快速蒙特卡洛方法对设计进行蒙特卡洛仿真，并分析仿真结果与电路设计规格之间的关系，优化电路优化器件列表的器件，迭代产生一组快速蒙特卡洛分析结果符合电路设计规格的器件参数，提高验证覆盖率的同时实现了电路优化，提高了芯片设计的质量和成品率。