[发明专利]光学相干层析成像装置和用于该装置的光源装置在审

专利信息
申请号: 201811573977.7 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109998473A 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 野泽有司;加藤千比吕;加茂考史 申请(专利权)人: 株式会社多美
主分类号: A61B3/12 分类号: A61B3/12;A61B3/14
代理公司: 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 代理人: 韩登营;蒋国伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光源装置 光学相干层析成像装置 测定光学系统 照射 波长扫描 视网膜反射 中心波长 光学层 图像 输出 拍摄
【权利要求书】:

1.一种光学相干层析成像装置,其拍摄受检眼的光学层析图像,其特征在于,

具有波长扫描型的光源装置和测定光学系统,其中该测定光学系统向所述受检眼照射从所述光源装置输出的光,

在设从所述光源装置向所述受检眼照射的光的直径为D,设所述光源装置的波长扫描频率为S,且设从所述光源装置向所述受检眼照射的光的中心波长为λ时,D/S×λ>1.61成立。

2.根据权利要求1所述的光学相干层析成像装置,其特征在于,

所述直径D在3mm以上。

3.根据权利要求1或2所述的光学相干层析成像装置,其特征在于,

所述波长扫描频率S在10Hz以上且在5000Hz以下。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的光学相干层析成像装置,其特征在于,

所述中心波长λ在700nm以上且在1400nm以下。

5.根据权利要求1~4中任一项所述的光学相干层析成像装置,其特征在于,

还具有控制装置,该控制装置对所述光源装置进行控制,

所述光源装置被构成为能够调整所述波长扫描频率S和所述中心波长λ中的至少一方,

所述控制装置调整从所述光源装置输出的光的所述波长扫描频率S和所述中心波长λ中的至少一方。

6.根据权利要求1~5中任一项所述的光学相干层析成像装置,其特征在于,

所述测定光学系统被构成为能够调整向所述受检眼照射的光的直径D,

所述测定光学系统调整所述直径D以使其成为所述受检眼的瞳孔直径以下。

7.根据权利要求1~6中任一项所述的光学相干层析成像装置,其特征在于,

所述测定光学系统具有焦点调整机构,该焦点调整机构能够调整向所述受检眼照射的光的焦点位置。

8.根据权利要求1~7中任一项所述的光学相干层析成像装置,其特征在于,

还具有受光元件、采样电路和采样时钟生成装置,其中,

所述受光元件接收来自所述受检眼的反射光且输出与该光的强度对应的信号;

所述采样电路对从所述受光元件输出的信号进行采样;

所述采样时钟生成装置根据从所述光源装置输出的光的频率生成时钟信号,该时钟信号规定对所述信号进行采样的时间。

9.一种波长扫描型的光源装置,其被装配于光学相干层析成像装置,且输出向所述受检眼照射的光,其中光学相干层析成像装置拍摄受检眼的光学层析图像,

其特征在于,

所述光源装置被构成为:当设向所述受检眼照射的光的直径为D,设波长扫描频率为S,设中心波长为λ时,能够以使D/S×λ>1.61成立的方式来调整所述波长扫描频率S和所述中心波长λ中的至少一方。

10.一种光学相干层析成像装置,其拍摄受检眼的光学层析图像,其特征在于,

具有波长扫描型的光源装置和测定光学系统,其中该测定光学系统向所述受检眼照射从所述光源装置输出的光,

从所述光源装置向所述受检眼照射的光的直径D为3mm以上。

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