[发明专利]一种JTAG电路及测控装置

说明书

本发明涉及电子测试测控技术领域，提供一种JTAG电路及测控装置,JTAG电路包括分别与被测端器件和JTAG插针连接的测控开关控制部件，所述测控开关控制部件还与服务器的基板管理控制器连接；所述测控开关控制部件用于接收所述服务器的基板管理控制器发送的JTAG功能开启或禁止指令，并依据所述JTAG功能开启或禁止指令，控制所述服务器的JTAG接口的禁用或开启，从而实现JTAG功能的灵活配置，防止非法人员通过JTAG接口的恶意操作，有效提升服务器的安全性。

技术领域

本发明属于电子测试测控技术领域，尤其涉及一种JTAG电路及测控装置。

背景技术

JTAG(Joint Test Action Group)是一种国际标准的边界扫描测试规范，被IEEE批准为IEEE 1149.1标准，目前多数高级器件都支持JTAG接口，例如现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)、微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)等。

JTAG接口的作用是通过连接专用的线缆对FPGA、MCU等器件进行在线的调试、程序下载等功能。但是JTAG接口在给程序调试和下载带来便利的同时，也存在较大安全隐患，例如，JTAG接口一旦被恶意人员利用，可以直接干预代码的执行，设置断点，或者进行代码修改等，给目标设备带来危害。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明提供了一种JTAG电路，旨在解决现有技术中。

本发明所提供的技术方案是：一种JTAG电路，包括分别与被测端器件和JTAG插针连接的测控开关控制部件，所述测控开关控制部件还与服务器的基板管理控制器连接；

所述测控开关控制部件用于接收所述服务器的基板管理控制器发送的JTAG功能开启或禁止指令，并依据所述JTAG功能开启或禁止指令，控制所述服务器的JTAG接口的禁用或开启。

作为一种改进的方案，所述测控开关控制部件包括四个分别与所述被测端器件、所述JTAG插针以及服务器的基板管理控制器连接的2选1多路选择器，分别记为第一2选1多路选择器、第二2选1多路选择器、第三2选1多路选择器以及第四2选1多路选择器；

所述2选1多路选择器设有四个端口，分别记为数据选择输入端A、数据输入端D0和D1以及数据输出端Y。

作为一种改进的方案，所述被测端器件上设有引脚TCK、引脚TD0、引脚TMS以及引脚TDI；

所述JTAG插针设有针脚TCK、针脚TDO、针脚TMS以及针脚TDI。

作为一种改进的方案，所述第一2选1多路选择器的数据选择输入端A与服务器的基板管理控制器的IO接口连接，所述数据输入端D0与所述被测端器件的引脚TCK连接，所述数据输入端D1接地，所述数据输出端Y与所述JTAG插针的针脚TCK连接。

作为一种改进的方案，所述第二2选1多路选择器的数据选择输入端A与服务器的基板管理控制器的IO接口连接，所述数据输入端D0与所述被测端器件的引脚TDO连接，所述数据输入端D1接地，所述数据输出端Y与所述JTAG插针的针脚TDO连接。

作为一种改进的方案，所述第三2选1多路选择器的数据选择输入端A与服务器的基板管理控制器的IO接口连接，所述数据输入端D0与所述被测端器件的引脚TMS连接，所述数据输入端D1接地，所述数据输出端Y与所述JTAG插针的针脚TMS连接。

作为一种改进的方案，所述第四2选1多路选择器的数据选择输入端A与服务器的基板管理控制器的IO接口连接，所述数据输入端D0与所述被测端器件的引脚TDI连接，所述数据输入端D1接地，所述数据输出端Y与所述JTAG插针的针脚TDI连接。