[发明专利]一种内循环式颗粒物浓度检测装置在审

专利信息
申请号: 201811571003.5 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109596495A 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 李星辉;吴豪;王晓浩;周倩;倪凯 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 唐致明
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 流道 浓度检测装置 测量单元 颗粒物 静电沉降装置 高压放电针 导流叶片 内循环式 密封室 内循环 颗粒物检测装置 大气颗粒物 通风口 高压放电 晶体安装 两端开口 浓度检测 质量变化 可开闭 电极 采样 集尘 测量 检测 流动
【说明书】:

发明涉及大气颗粒物浓度检测技术领域,公开了一种内循环颗粒物检测装置。本发明的内循环颗粒物浓度检测装置包括密封室,所述密封室设有可开闭的通风口,用于收集空气以采样;测量单元,所述测量单元包括流道、导流叶片以及静电沉降装置,所述流道两端开口设置,所述导流叶片设于所述测量单元一端,用于引导所述流道内气体的流动,所述静电沉降装置包括晶体以及高压放电针,所述晶体安装于所述流道内,用于检测其表面质量变化,所述高压放电针与所述晶体构成电极对,用于高压放电集尘。本发明的内循环式颗粒物浓度检测装置结构更加简单、测量更加可靠。

技术领域

本发明属于大气颗粒物浓度检测技术领域,尤其是涉及一种内循环式颗粒物浓度检测装置。

背景技术

大气颗粒物浓度多采用压电晶体测量法进行检测。压电晶体测量法中,利用惯性沉积或者静电沉积的方式可以使颗粒物沉降在晶体表面,通过检测晶体谐振频率的变化换算得到颗粒物质量浓度。由于一般的压电晶体测量法为暴露在大气中采样,需要配备相应的采样泵,体积较为庞大,并且流量控制相对复杂,温湿度的影响不易消除,颗粒物的二次反弹现象严重,极大地影响了测量的准确性。

发明内容

为了克服现有技术的不足,本发明提供一种内循环式颗粒物浓度检测装置,无需设置流量泵和质量流量控制单元,在密封室内进行内循环,使得颗粒物反复沉降,结构简单、可靠。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种内循环式颗粒物浓度检测装置,包括密封室,所述密封室设有可开闭的通风口,用于收集空气以采样;测量单元,所述测量单元包括流道、导流叶片以及静电沉降装置,所述流道两端开口设置,所述导流叶片设于所述测量单元一端,用于引导所述流道内气体的流动,所述静电沉降装置包括晶体以及高压放电针,所述晶体安装于所述流道内,用于检测其表面质量变化,所述高压放电针与所述晶体构成电极对,用于高压放电集尘。

作为上述技术方案的进一步改进,所述流道内安装有晶体托盘,所述晶体固定安装于所述晶体托盘上。

作为上述技术方案的进一步改进,所述测量单元包括两处,且两处所述测量单元上下排布于所述密封室内。

作为上述技术方案的进一步改进,于所述密封室的左右方向上,两处所述测量单元反向设置,以使所述密封室内的气体在两处所述测量单元工作时保持循环。

作为上述技术方案的进一步改进,所述密封室内还设置有扰流叶片,用于混合所述密封室内的气体。

作为上述技术方案的进一步改进,所述扰流叶片包括两处。

作为上述技术方案的进一步改进,所述密封室内还设置有温度调控模块以及湿度调控模块。

作为上述技术方案的进一步改进,其中一个所述测量单元中,所述晶体的表面设置有修饰层,以提高所述晶体的吸附效率。

本发明还提供一种内循环式颗粒物浓度检测方法,包括如下步骤:S1,构件封闭环境,在封闭环境内设置静电沉降装置;S2,封闭环境向大气采样足够的气体;S3,引导封闭环境内的气体进行内循环,并引导气体向晶体表面运动;S4,晶体及高压放电针供电,开始静电沉降,稳定后,得到晶体表面质量数据。

作为上述技术方案的进一步改进,封闭环境中设置温度调控模块、湿度调控模块,在S3之前,将封闭环境内的温度和湿度调节到最佳检测区域。

本发明的有益效果是:

本发明的内循环式颗粒物浓度检测装置,利用静电沉降进行颗粒物浓度的检测,检测单元设置在密封室内,利用导流叶片实现密封室内的气体循环,使得颗粒物反复沉降,结构更加简单、测量更加可靠。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明一个实施例的内循环式颗粒物浓度检测装置的俯视透视图;

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