[发明专利]一种JBOD存储设备测试的方法、系统及服务器

说明书

本申请公开了一种JBOD存储设备测试的方法，包括：向连接于通用服务器的各JBOD存储设备发送关机命令；通过与各JBOD存储设备连接的接口将各JBOD存储设备的加电自启动参数设置为开启状态；向为各JBOD存储设备供电的PDU发送断电命令；向PDU发送供电命令；在各JBOD存储设备重新启动之后，对各JBOD存储设备进行测试。本申请所提供的技术方案使得在测试JBOD存储设备的过程中，能够通过实现JBOD存储设备的加电自启动，避免了人力资源的浪费，极大的提高了测试效率。本申请同时还提供了一种JBOD存储设备测试的系统、服务器及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。

技术领域

本申请涉及存储设备测试领域，特别涉及一种JBOD存储设备测试的方法、系统、服务器及计算机可读存储介质。

背景技术

简单磁盘捆绑(just a bunch of disks，JBOD)是指还没有根据RAID(独立磁盘冗余阵列)系统配置以增加容错率和改进数据访问性能的电脑硬盘。

RAID系统在多个磁盘上冗余地存储了同样的数据，而这多个磁盘在操作系统看来就像一个磁盘。虽然JBOD也让多个磁盘看来似乎只有一个，但它是通过把多个驱动器合并成一个大的逻辑磁盘来做到这一点的。JBOD使用独立的磁盘并没有带来任何好处，也不能提供任何RAID所能带来的容错或是更好的性能等好处。

由于JBOD一般在使用中都包含多个磁盘，因此总的存储容量十分巨大，而如果一个磁盘的故障就会造成整个设备中的故障，势必对系统是一个巨大风险。基于JBOD存储本身的低容错率，对产品本身的可靠性测试变得尤为重要。

当前在测试JBOD存储设备的过程中，比如刷新分位后，需要手动重启JBOD存储设备后才能继续测试，浪费了人力资源，极大的影响了测试效率。

因此，如何提高JBOD存储设备的测试效率是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种JBOD存储设备测试的方法、系统、服务器及计算机可读存储介质，用于提高JBOD存储设备的测试效率。

为解决上述技术问题，本申请提供一种JBOD存储设备测试的方法，该方法包括：

向连接于通用服务器的各JBOD存储设备发送关机命令，以使各所述JBOD存储设备执行所述关机命令后处于关机状态；

通过与各所述JBOD存储设备连接的接口将各所述JBOD存储设备的加电自启动参数设置为开启状态，以实现各所述JBOD存储设备的加电自启动；

向为各所述JBOD存储设备供电的PDU发送断电命令，以使所述PDU执行所述断电命令终止对各所述JBOD存储设备的供电；

向PDU发送供电命令，以使所述PDU执行所述供电命令后为各所述JBOD存储设备供电，各所述JBOD存储设备重新启动；

在各所述JBOD存储设备重新启动之后，对各所述JBOD存储设备进行测试。

可选的，所述向为各所述JBOD存储设备供电的PDU发送断电命令，包括：

获取各所述JBOD存储设备的位置信息；

根据各所述位置信息确定各所述JBOD存储设备对应的PDU的地址信息；

根据各所述地址信息向各所述JBOD存储设备对应的PDU发送所述断电命令。

可选的，在向连接于通用服务器的各JBOD存储设备发送关机命令之前，还包括：

对各所述JBOD存储设备进行基本功能检查。

可选的，在对各所述JBOD存储设备进行测试之后，还包括：