[发明专利]一种上电测试时对Vcc的检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种上电测试时对Vcc的检测方法及装置，针对存储芯片的上电测试电路中的Vcc电压测量进行优化，通过附加一个计数器对Vcc电压变化的时间进行简单的计算，能够快速且方便地获得Vcc_detect的数值和触发时间Tvcc，避免了传统的复杂测试方法。

技术领域

本发明涉及存储电路的上电测试领域，特别是一种上电测试时对Vcc的检测方法及装置。

背景技术

在存储领域中，上电检测是存储芯片出厂前测试的必经步骤，关系到存储芯片的工作稳定性，通常情况下制造商都会在存储芯片中设置上电检测电路，在上电检测电路中设置检测点，用来对Vcc、Vpp或电平信号等；由于存储芯片中电压的变化还涉及到时间参数，因此常规的对于检测点的测试方法通常较为复杂。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种上电测试时对Vcc的检测方法及装置，利用计数器结合时钟信号测试Vcc的参数，能够快速且精准地进行测试。

本发明解决其问题所采用的技术方案是：

一种上电测试时对Vcc的检测方法，包括以下步骤：

时钟信号从Vcc＿detect信号到达时始计数；

时钟信号从Vcc信号到达时停止计数；

获取时钟信号从Vcc＿detect到达至Vcc到达期间经过周期数N和每个周期的时长T；

得到Vcc＿detect信号的数值，以及从Vcc＿detect到Vcc的信号触发时间Tvcc。

进一步，从Vcc＿detect到Vcc的信号触发时间Tvcc＝N＊T。

进一步，Vcc信号从Vcc＿detect信号开始以速度恒定提升，提升速率为f，Vcc＿detect信号的数值为Vcc－f＊N＊T。

进一步，所述时钟信号为方波脉冲信号，由存储芯片内部的时钟产生或者由外部时钟输入。

一种上电测试时对Vcc的检测装置，包括：

开始计时模块，用于时钟信号从Vcc＿detect信号到达时始计数；

结束计时模块，用于时钟信号从Vcc信号到达时停止计数；

计数模块，用于获取时钟信号从Vcc＿detect到达至Vcc到达期间经过周期数N和每个周期的时长T；

处理模块，用于得到Vcc＿detect信号的数值，以及从Vcc＿detect到Vcc的信号触发时间Tvcc。

本发明的有益效果是：本发明针对存储芯片的上电测试电路中的Vcc电压测量进行优化，通过附加一个计数器对Vcc电压变化的时间进行简单的计算，能够快速且方便地获得Vcc＿detect的数值和触发时间Tvcc，避免了传统的复杂测试方法。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。

图1是本发明实施例的流程示意图；

图2是本发明实施例的Vcc电平示意图。

具体实施方式

参照图1和图2，本发明的一个实施例提供了一种上电测试时对Vcc的检测方法，包括以下步骤：

时钟信号从Vcc＿detect信号到达时始计数；

时钟信号从Vcc信号到达时停止计数；

获取时钟信号从Vcc＿detect到达至Vcc到达期间经过周期数N和每个周期的时长T；