[发明专利]一种通过振荡波检测电抗器绝缘状况的方法在审
申请号: | 201811564199.5 | 申请日: | 2018-12-20 |
公开(公告)号: | CN109471008A | 公开(公告)日: | 2019-03-15 |
发明(设计)人: | 胡维兴 | 申请(专利权)人: | 杭州西湖电子研究所 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01R31/14 |
代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 朱月芬 |
地址: | 311121 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电抗器 绝缘状况 充电控制开关 振荡控制开关 检测 局部放电检测仪 耦合电容器 闭合 振荡波 局放 断开 高压直流电源 接入检测电路 阻尼振荡波 电源负载 检测电压 控制方便 脉冲信号 预设电压 振荡回路 电压表 平滑 耐压 阻抗 跌落 突变 充电 电路 | ||
本发明涉及一种通过振荡波检测电抗器绝缘状况的方法。现行方法不能同时对电抗器的耐压和局放进行检测。本发明方法的电路包括高压直流电源、充电控制开关、振荡控制开关、被测电抗器、无局放耦合电容器、电压表、检测阻抗和局部放电检测仪。被测电抗器接入检测电路,首先断开振荡控制开关、闭合充电控制开关,对无局放耦合电容器充电至预设电压,充满后断开充电控制开关、闭合振荡控制开关,通过局部放电检测仪得到阻尼振荡波曲线,如该曲线在电压峰值处不存在跌落突变,且为正常平滑且无脉冲信号,则判断被测电抗器绝缘状况合格。本发明方法简单易行,振荡回路电源负载功率小,检测电压控制方便,可满足不同电压等级下的电抗器绝缘状况检测。
技术领域
本发明属于电力检测技术领域,涉及一种电抗器绝缘状况的检测方法,具体涉及一种通过振荡波检测电抗器绝缘状况的方法。
背景技术
并联电抗器作为电网变电设备的主要部件,其安全稳定直接影响电网的安全。并联电抗器的事故大多数是由于其内部局部放电、发热引起的绝缘油持续劣化、绝缘部件损坏所造成。对电抗器绝缘状况的检测以耐压和局部放电检测为主。
目前电抗器局放检测主要采用交流电源升压技术。如图1所示,该种检测方法通过调压器T1和试验变压器T2对输入的交流电源AC稳步升压至预设电压;通过无局放耦合电容C,检测阻抗Z采集、传输至局部放电检测仪J,局部放电检测仪J对检测数据进行计算、分析得到被测电抗器L的局部放电信息。该种方式采用交流电源持续加压,对试验电源要求较高,存在试验容量大,所需试验装备复杂,电源负载功率大等缺点。
测量电抗器耐压状况的方法一般利用机械开关(球隙法)瞬间击穿导通产生振荡波回路的方法,如机械行业标准JB/T 10775-2007。如图2所示,试验过程通过调压器AT、试验变压器TC先将电容器C充电至试验电压,然后关合球隙Q直到发生击穿,电容器C和被测电抗器Lx形成串联振荡电路,球隙Q的击穿电压就是电容器C的充电电压,即被测电抗器Lx两端的试验电压。该方法主要是利用机械开关(改变球隙距离)来完成瞬间导通过程,此方法在球隙击穿时会产生过冲电压,对电抗器造成冲击,但被测电抗器本身经过冲击后即成报废器件了,不具有检测的意义。另外,该方法只针对电抗器的耐压测量,未给出电抗器局放如何测量判断。
发明内容
本发明的目的就是针对现有技术的不足,提供一种通过振荡波检测电抗器绝缘状况的方法,该方法同时对电抗器的耐压和局部放电进行检测。
为实现上述检测方法,本发明采用如下检测电路:包括高压直流电源、充电控制开关、振荡控制开关、被测电抗器、无局放耦合电容器、电压表、检测阻抗和局部放电检测仪。
所述的高压直流电源正极接充电控制开关的一端,充电控制开关的另一端和振荡控制开关的一端接被测电抗器的一端,无局放耦合电容器和电压表并联后的一端接被测电抗器的另一端,并联后的另一端接检测阻抗的信号输入端;高压直流电源的负极、振荡控制开关的另一端接地,局部放电检测仪接检测阻抗的信号输出端,检测阻抗的接地端接地。
检测阻抗的具体结构:包括磁芯,磁芯上套有两组线圈,分别作为原边电感L1和副边电感L2;原边电感L1、电阻R1、分布电容C并联后的一端作为信号输入端,另一端接接地端;副边电感L2、电阻R2并联后的一端作为信号输出端,另一端接接地端。
进一步,所述的高压直流电源的输出电压为300V~60KV,输出电压和频率与被测电抗器的电压等级相匹配。
进一步,所述的充电控制开关和振荡控制开关为固体电子开关,充电控制开关和振荡控制开关规格均与高压直流电源电压匹配。
进一步,所述的无局放耦合电容器与被测电抗器电压等级匹配,检测阻抗满足振荡回路中的耦合电容器电容量大小在检测阻抗调谐电容范围内。
进一步,所述的局部放电检测仪具有信号采集,数字信号处理以及图像显示分析功能。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州西湖电子研究所,未经杭州西湖电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811564199.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。