[发明专利]一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法及系统在审
申请号: | 201811561601.4 | 申请日: | 2018-12-20 |
公开(公告)号: | CN109633513A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 康宁;王淞宇;袁岩兴;穆晨晨;刘阳;杨金涛;张磊;唐元贵 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R35/02 | 分类号: | G01R35/02 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁辐射 暗室 仿真模型 接收天线 试验 发射天线 金属接地平板 被测设备 测量频段 模拟设备 试验过程 天线类型 有效分析 对设备 全频段 天线 测量 | ||
1.一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法,其特征在于,包括:
基于预先建立的金属接地平板仿真模型,通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上,建立发射天线仿真模型;
基于待确定的设备电磁辐射试验暗室进行试验时使用的接收天线,建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型;
基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型,确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
2.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型,确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能,包括:
基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型,通过比对该暗室内表面贴附射频吸波材料时和该暗室内表面为理想吸波表面时的接收场强,确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
3.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述接收天线仿真模型包括:
拉杆天线仿真模型、双锥天线仿真模型、双脊喇叭天线仿真模型。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
根据设备电磁辐射试验配置要求,建立所述金属接地平板仿真模型。
5.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上,建立发射天线仿真模型,包括:
将测试线缆平行于所述金属接地平板放置,并且所述测试线缆位于所述金属接地平板上方预设距离;
在所述金属接地平板仿真模型上方进行测试线缆的仿真计算,建立发射天线仿真模型。
6.一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定系统,其特征在于,包括:
发射天线仿真模型建立模块,基于预先建立的金属接地平板仿真模型,通过将测试线缆放置于待确定的设备电磁辐射试验暗室的金属接地平板上,建立发射天线仿真模型;
接收天线仿真模型建立模块,基于待确定的设备电磁辐射试验暗室进行试验时使用的接收天线,建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型;
性能确定模块,基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型,确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
7.根据权利要求6所述的确定系统,其特征在于,所述性能确定模块基于所述发射天线模型和任意一种接收天线模型,通过比对该暗室内表面贴附射频吸波材料时和该暗室内表面为理想吸波表面时的接收场强,确定对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。
8.根据权利要求6所述的确定系统,其特征在于,所述发射天线仿真模型建立模块包括:
实物放置单元,将测试线缆平行于所述金属接地平板放置,并且所述测试线缆位于所述金属接地平板上方预设距离;
仿真计算单元,在所述金属接地平板仿真模型上方进行测试线缆的仿真计算,建立发射天线仿真模型。
9.一种计算机设备,包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,
所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-5任一项所述方法。
10.一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,
该程序被处理器执行时实现如权利要求1-5任一项所述方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所,未经北京无线电计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811561601.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。