[发明专利]一种用于孔径测量的偏心结构

说明书

本发明公开了一种用于孔径测量的偏心结构，包括测头，测头包括测头本体，测头本体内设置多个测试结构，测试结构垂直于测头本体的轴向结构设置，多个测试结构平行设置，测试结构包括4个触点，4个传感器，每个传感器顶端安装一个触点，4个传感器互相垂直设置，远离触点的顶端形成方形的孔洞，所述测头本体设置多个孔，传感器安装触点的一端沿着测头本体的孔伸缩运动，所述传感器内部设有弹簧件，本偏心结构测量孔径精度高，准确性高，抗碰撞、冲击力，使用寿命长，结构简单，制造成本低，使用方便。

技术领域

本发明属于测量装置领域，尤其涉及一种用于孔径测量的偏心构。

背景技术

对于一些孔径的测量，特别是多层测量截面的测量，受孔径尺寸限制，无法布置普通笔式传感器。而选用微型传感器，不仅传感器的成本大幅升高，微型传感器的防护等级，抗碰撞、冲击力的能力较低，而且对于测头的制造难度加大。

在申请号为：CN201020259151.6，申请日为:20100630,名称为：一种孔径测量装置的专利中，公开了一种孔径测量装置，包括孔径测量机构、驱动机构、被测工件固定夹具及控制模块，所述孔径测量机构包括一活动测量针、两个固定测量针、测量驱动器、位移传感器，所述测量驱动器用于驱动该活动测量针，使所述活动测量针和两个固定测量针都与待测圆孔内壁接触，所述位移传感器用于检测该活动测量针在孔径测量过程中产生的位移量；所述控制模块与所述位移传感器相连并根据所述位移量计算所述待测圆孔的内径。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种用于孔径测量的偏心结构。

本发明的的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种用于孔径测量的偏心结构，包括测头1，测头1包括测头本体105，测头本体105内设置多个测试结构，测试结构垂直于测头本体105的轴向结构设置，多个测试结构平行设置，测试结构包括4个触点103，4个传感器101，每个传感器101顶端安装一个触点103，4个传感器互相垂直设置，远离触点103的顶端形成方形的孔洞，所述测头本体设置多个孔，传感器101安装触点103的一端沿着测头本体的孔伸缩运动，所述传感器101内部设有弹簧件。

优选的，所述传感器101外壁与测头本体孔之间设有传感器夹紧套104。

优选的，所述传感器夹紧套104通过内六角紧定螺钉102固定在测头本体孔内。

优选的，所述测头1上方设有手柄2，所述手柄2和测头1通过六角螺钉固定连接。

优选的，所述手柄2上设置有一个挂片4。

优选的，所述手柄2上端连接波纹管3。

优选的，所述测试结构设置有3层，每层测试结构之间等间距平行设置。

本发明的有益效果：

本偏心结构测量孔径精度高，准确性高，抗碰撞、冲击力，使用寿命长，结构简单，制造成本低，使用方便。

附图说明

图1为一种用于孔径测量的偏心结构的立体结构示意图，其中D-D，F-F为不同剖面方向。

图2为图1中F-F方向剖视图。

图3为图1中D-D方向剖视图。

具体实施方式

结合附图所示，本发明的技术方案作进一步