[发明专利]一种译码方法及装置、存储介质在审
申请号: | 201811551026.X | 申请日: | 2018-12-18 |
公开(公告)号: | CN111341362A | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 程晨;曾文琪;王思宇;叶联渲 | 申请(专利权)人: | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
主分类号: | G11C8/10 | 分类号: | G11C8/10 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒 |
地址: | 518055 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 译码 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种译码方法,其特征在于,所述方法包括:
获取离线状态下得到的预测模型;所述预测模型用于表征物理参数与预测误码率的映射关系;所述物理参数用于表征影响所述预测误码率的读取电压和影响所述预测误码率的其他参数;
在当前次译码状态下,获取当前物理参数;所述当前物理参数为当前次译码对应的所述物理参数;
根据所述预测模型和所述当前物理参数,得到当前预测误码率;
根据所述当前预测误码率,得到软信息,以使得基于所述软信息完成所述当前次译码。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述当前物理参数包括:当前读取电压和当前其他参数;
所述当前其他参数包括以下至少一个:所述当前次译码对应的存储单元的位置、所述存储单元的相邻存储单元中的存储数据、数据保持时间和所述存储单元的数据处理操作次数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取离线状态下得到的预测模型,包括:
在所述离线状态下,对自身的存储单元中的存储数据进行数据处理操作,得到历史物理参数和历史误码率;所述历史物理参数为所述数据处理操作对应的所述物理参数;
利用所述历史物理参数和所述历史误码率,对预设初始模型进行训练,得到所述预测模型。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述利用所述历史物理参数和所述历史误码率,对预设初始模型进行训练,得到所述预测模型,包括:
根据预设划分比例,对所述历史物理参数和所述历史误码率进行划分,得到模型训练数据和模型验证数据;
将所述模型训练数据分为k组模型训练数据;k为大于0的正整数;
利用所述k组模型训练数据中的每组模型训练数据,对所述预设初始模型进行训练,得到所述k组模型训练数据中每组模型训练数据对应的模型;
利用所述模型验证数据,确定所述每组模型训练数据对应的模型的预测准确率;
根据所述预测准确率,从所述k组模型训练数据中每组模型训练数据对应的模型中,确定出所述预测模型。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取离线状态下得到的预测模型,包括:
在所述离线状态下,在预设周期的开始时刻,从m个预设读取电压中确定出最优读取电压;所述最优读取电压为所述m个预设读取电压中对应的误码率最小的预设读取电压;m为大于0的正整数;
在所述预设周期内,对自身的存储单元中的存储数据进行数据处理操作,得到历史物理参数和历史误码率;所述历史物理参数为所述数据处理操作对应的所述物理参数;
利用所述历史物理参数、所述历史误码率和所述最优读取电压,对预设初始模型进行训练,得到改进预测模型;所述改进预测模型用于表征所述物理参数与所述预测误码率和预测读取电压的映射关系;
将所述改进预测模型作为所述预测模型。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预测模型用于表征所述物理参数与所述预测误码率和预测读取电压的映射关系;
在所述获取当前物理参数之后,所述方法还包括:
根据所述预测模型和所述当前物理参数,得到当前预测读取电压;
根据所述当前预测读取电压,得到下一个物理参数;所述下一个物理参数为下一次译码对应的所述物理参数。
7.根据权利要求1至6任一项所述的方法,其特征在于,在所述根据所述当前预测误码率,得到软信息之后,所述方法还包括:
根据所述软信息,得到当前译码结果;
根据所述当前译码结果,更新所述预测模型的权值,得到更新后的预测模型。
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