[发明专利]一种适用于地热勘查的导热构造识别方法在审

专利信息
申请号: 201811550106.3 申请日: 2018-12-18
公开(公告)号: CN109633779A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 张松;郝伟林;万汉平;郭建 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G01V9/00 分类号: G01V9/00
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 闫兆梅
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 地热 导热 构造识别 测量 地热异常区 测量标志 地质特征 勘查技术 异常点 单点 分析
【权利要求书】:

1.一种适用于地热勘查的导热构造识别方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤(1)、地热异常区内米温测量;步骤(2)、米温测量异常点单点分析;步骤(3)、地热异常区内导热构造的识别。

2.根据权利要求1所述的一种适用于地热勘查的导热构造识别方法,其特征在于:所述步骤(1)包括如下步骤:选择地热异常及其地表热异常附近的区域进行米温测量,在有土壤盖层时测量1m深处温度,地表为水体时,测量水体温度。

3.根据权利要求2所述的一种适用于地热勘查的导热构造识别方法,其特征在于:米温测量采用面积测量的方法,比例尺为1:10000;比例尺越大,后续分析结果越精确。

4.根据权利要求2所述的一种适用于地热勘查的导热构造识别方法,其特征在于:所述步骤(2)包括如下步骤:将步骤(1)获得的米温测量结果投影到地质图或高精度的遥感图像上;将每个点的米温测量数据在图上标注出来;在图像上对测量结果进行单点分析。

5.根据权利要求4所述的一种适用于地热勘查的导热构造识别方法,其特征在于:所述单点分析方法为:选择一条米温测量剖面分析异常点;发现异常点后,将温度异常点在图上标注出来;再对米温测量区域内其他测量剖面上的异常点进行分析;将测量过程中获得全部的异常点在地质图或遥感图中标注出来。

6.根据权利要求5所述的一种适用于地热勘查的导热构造识别方法,其特征在于:所述异常点为高出温度平均值2℃以上的点。

7.根据权利要求4所述的一种适用于地热勘查的导热构造识别方法,其特征在于:步骤(2)中获得的地热异常点,即为导热构造通过的地方,结合地质资料,分析研究区域内主要构造的走向,将获得异常点连接起来,即为研究区域内的导热构造。

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