[发明专利]一种增强蓝光型硅基雪崩光电二极管阵列及其制备方法在审
| 申请号: | 201811549953.8 | 申请日: | 2018-12-18 |
| 公开(公告)号: | CN109742093A | 公开(公告)日: | 2019-05-10 |
| 发明(设计)人: | 高丹;张军 | 申请(专利权)人: | 暨南大学 |
| 主分类号: | H01L27/144 | 分类号: | H01L27/144;H01L31/0224;H01L31/0352;H01L31/18 |
| 代理公司: | 广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙) 44446 | 代理人: | 林伟斌;凌衍芬 |
| 地址: | 510632 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 衬底 吸收层 场控 硅外延层 倍增层 耗尽层 硅基 雪崩光电二极管阵列 阴极 蓝光 雪崩光电二极管 衬底上表面 光量子效率 亚波长结构 阳极 规则排列 多晶硅 高掺杂 高增益 灵敏度 硅片 绝缘 制备 | ||
1.一种增强蓝光型硅基雪崩光电二极管阵列,其特征在于,所述雪崩光电二极管为SACM型APD,包括衬底以及设于衬底底部的阳极,所述衬底上表面设有凹槽,所述凹槽中自下而上依次包括:阴极、非耗尽层、倍增层和场控层,且阴极、非耗尽层、倍增层以及场控层分别与所述衬底之间绝缘;所述场控层上覆有吸收层,且所述吸收层与所述衬底相接;所述吸收层表面覆有亚波长结构层;
所述衬底为p+型硅片;所述非耗尽层为n+型的硅外延层;所述倍增层为π型的硅外延层;所述场控层为p型的硅外延层;所述吸收层为π型硅外延层。
2.根据权利要求1所述的增强蓝光型硅基雪崩光电二极管阵列,其特征在于,所述衬底的掺杂浓度为1015~1030cm-3;所述非耗尽层的掺杂浓度为1015~1030cm-3;所述倍增层的掺杂浓度为1012~1015cm-3;所述场控层的掺杂浓度为1016~1018cm-3;所述吸收层的掺杂浓度为1012~1015cm-3。
3.根据权利要求1所述的增强蓝光型硅基雪崩光电二极管阵列,其特征在于,阴极和阳极为Au、Ag、Cu、Al、Cr、Ni、Ti中的一种或几种的合金层;
和/或,所述阴极、非耗尽层、倍增层和场控层与所述衬底之间绝缘具体为:
所述阴极、非耗尽层、倍增层和场控层与所述衬底之间填充有绝缘填充物;
所述绝缘填充物包括设于凹槽底部的第一绝缘层;所述绝缘填充物还包括设于凹槽侧面,将阴极、非耗尽层、倍增层和场控层的侧面与衬底隔离的第二绝缘层。
4.根据权利要求3所述的增强蓝光型硅基雪崩光电二极管阵列,其特征在于,所述第一绝缘层为聚二甲基硅氧烷、聚酰亚胺或者SiO2,所述第二绝缘层为空气、聚二甲基硅氧烷、聚酰亚胺或者SiO2。
5.根据权利要求1所述的增强蓝光型硅基雪崩光电二极管阵列,其特征在于,所述亚波长结构层的材质为Au、Ag或者Al;和/或所述亚波长结构层的厚度为10nm~500nm;和/或所述亚波长结构层的形状为正方形、长方形、圆形或者十字型。
6.根据权利要求1所述的增强蓝光型硅基雪崩光电二极管阵列,其特征在于,所述非耗尽层的面积小于所述倍增层的面积。
7.根据权利要求1~6任一项所述的增强蓝光型硅基雪崩光电二极管阵列,其特征在于,所述衬底上表面设有多个阵列的凹槽;各所述凹槽覆有相对应的吸收层,且所述吸收层分别与所述场控层和衬底相接,同时各所述凹槽所对应的吸收层之间是相互断开的。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





