[发明专利]一种触摸屏静电放电检测与保护方法

说明书

本发明公开了一种触摸屏静电放电检测与保护方法，其包括：ESD检测步骤，当上一帧触摸数据无触摸点而当前触摸数据产生触摸点时，对触摸点数据进行特征分析，并在判断出当前触摸数据为ESD干扰数据时，执行ESD滤波步骤；ESD滤波步骤，通过预设的滤波算法滤除因ESD干扰导致的异常数据点数。本发明从ESD冲击对触摸屏影响的数据现象分析，解决了硬件未能解决的触摸屏ESD干扰问题。同时，通过软件算法，对ESD干扰可以准确检测，并做相应的滤波和稳定性优化，使触摸屏ESD干扰优化的另一层面得到有效提升。相比现有技术而言，本发明能够防止触摸屏在受到ESD冲击时发生工作异常，从而解决触摸屏ESD干扰问题，大大提高了触摸屏的ESD性能。

技术领域

本发明涉及触摸屏，尤其涉及一种触摸屏静电放电检测与保护方法。

背景技术

随着智能手机和设备的发展，电容式触摸屏产品的应用越来越广泛。主要是因为电容式触摸屏坚固耐用、反应速度快和具有良好的体验效果。特别是应用在智能手机产品上，电容式触摸屏的触摸体验效果得以很好的诠释。我们每天都会频繁接触智能手机，更甚至可以说智能手机已经成为我们生活的一部分，也可以说电容式触摸屏已经成为我们生活的一部分。因此，电容式触摸屏ESD的稳定性也自然的成为大家关注的焦点，甚至已经是电容式触摸屏的硬性指标。当电容式触摸屏受到ESD冲击时，如果触摸屏ESD性能差，受到ESD冲击后就容易出现触摸不动作或者触摸乱动作等等工作异常现象。处理不当非常影响使用。如何检测和保护电容式触摸屏的ESD干扰是一个亟待解决的问题。

现有技术中，当电容式触摸屏受到ESD冲击，触摸屏出现乱跳点(常说的误动作)、触摸屏冻屏(触摸无反应)和触摸芯片发热等等触摸屏工作异常现象。通常的做法有:1、改版硬件优化电容触摸屏的硬件，增强电容触摸屏对ESD的滤波强度和对地的导电力；2、改版芯片优化触摸芯片的抗ESD性能，提高芯片的抗ESD能力，防止出现因ESD冲击而导致芯片无法工作。从而保护电容式触摸屏不受ESD干扰或者降低ESD干扰。但是现有技术主要存在以下缺陷：

首先，增加电容式触摸屏与触摸屏主机触摸信息交互，有效的提高触摸屏ESD的检测和保护性能，但是增加触摸屏主机触摸驱动逻辑的复杂度，增加了主机驱动工程师的工作量；

其次，根据电容触摸屏受ESD冲击数据特性识别电容触摸屏ESD的方式，可以准确的检测出屏体的ESD冲击，为触摸屏的ESD保护算法提供了良好的依据。但是如果触摸屏遇到外界其他强烈干扰，干扰时触摸检测的数据与ESD检测数据类似时，容易引起ESD检测误检。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足，提供一种能够防止触摸屏在受到ESD冲击时发生工作异常，从而解决触摸屏ESD干扰问题，以及提高ESD性能的触摸屏静电放电检测与保护方法。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案。

一种触摸屏静电放电检测与保护方法，其包括：ESD检测步骤，当上一帧触摸数据无触摸点而当前触摸数据产生触摸点时，对触摸点数据进行特征分析，并在判断出当前触摸数据为ESD干扰数据时，执行ESD滤波步骤；ESD滤波步骤，通过预设的滤波算法滤除因ESD干扰导致的异常数据点数。

优选地，所述ESD检测步骤包括如下过程：步骤S10，针对当前点所在行，统计每个节点数据的数据值大于预设阈值THA的个数CountA，其中，所述阈值THA为ESD数据特征阈值；步骤S11，计算大于阈值THA所在位置的上一行和下一行所有数据的和SumA，以及统计所有数据的个数CountB，并计算平均值AvgVal＝SumA/CountB；步骤S12，判断个数CountA是否大于预设的ESD数据特征个数阈值EsdDataNum；步骤S13，判断平均值AvgVal是否小于预设的阈值THB，其中，所述阈值THB为非ESD数据特征阈值；步骤S14，若步骤S12和步骤S13的判断结果均为“是”，则检测得出当前帧数据为ESD干扰数据。