[发明专利]一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法在审
申请号: | 201811547730.8 | 申请日: | 2018-12-18 |
公开(公告)号: | CN109633467A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 刘伟鑫;汪波 | 申请(专利权)人: | 上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所 |
主分类号: | G01R31/385 | 分类号: | G01R31/385 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 余岢 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 管理芯片 锂电池 可靠性验证 宇航 评价指标体系 性能评估 验证 电特性一致性 锂离子蓄电池 环境适应性 关键参数 结构分析 力学环境 验证试验 应用电路 应用特性 宇航应用 电特性 抗辐射 航天器 热学 元器件 分析 评估 | ||
1.一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法,其特征在于,步骤如下:
步骤一、设计评价指标体系,对宇航用锂电池管理芯片可靠性关键参数进行分析;
步骤二、根据评价指标体系设计评价验证试验项目;
步骤三、开展结构分析工作;
步骤四、开展电特性一致性分析;
步骤五、开展极限性能评估;
步骤六、开展抗辐射性能评估;
步骤七、开展电特性适应性验证;
步骤八、开展力学环境和热学环境适应性验证。
2.如权利要求1所述的一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法,其特征在于,所述步骤二包括结构分析、功能性能分析、极限性能评估、抗辐射性能评估、板级电特性适应性评估、板级热学环境适应性评价、力学环境适应性评价、EMC电磁兼容适应性评价。
3.如权利要求1所述的一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法,其特征在于,所述步骤四分析包括常温、高温、低温下关键参数的一致性分布情况,参数包括电池输入端总不可调整误差、辅助输入端总不可调整误差、电池输入端静态漏电流、辅助输入端静态漏电流、基准电压、基准电压线性调整率、基准电压开启时间、稳压器输出电压、稳压器线性调整率、稳压器负载调整率、转换期间主器件电源电流、数据回读期间主器件电源电流、软件关断主器件电源电流、完全关断模式主器件电源电流。
4.如权利要求1所述的一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法,其特征在于,所述步骤五对宇航用锂电池管理芯片的抗环境应力极限性能进行评估,包括输入电压应力、电源电压应力、温度应力、机械应力等,温度应力极限评估主要进行温度循环和温度冲击试验,机械应力主要进行冲击试验、随机振动试验、恒定加速度试验。
5.如权利要求1所述的一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法,其特征在于,所述步骤六对宇航用锂电池管理芯片的抗空间辐射环境性能进行评估,包括总剂量效应和单粒子效应。
6.如权利要求1所述的一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法,其特征在于,所述步骤七对宇航用锂电池管理芯片在典型应用线路中的适应性进行验证,包括测试器件寄存器读/写命令执行正确性、读写时序、菊链式数据传输的正确性、静态/动态功耗。
7.如权利要求1所述的一种宇航用锂电池管理芯片可靠性验证方法,其特征在于,所述步骤八包括测试热循环、热真空、随机振动、正弦振动、机械冲击条件下宇航用锂电池管理芯片在典型应用线路中的适应性,测试参数包括器件寄存器读/写命令执行正确性、读写时序、菊链式数据传输的正确性、静态/动态功耗。
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