[发明专利]存储器的测试方法、装置及可读存储器

说明书

本发明涉及了一种存储器的测试方法、装置及可读存储器，该测试方法包括：对存储器进行读写操作，通过预设的映射算法根据写数据得到目标写映射值；通过所述预设的映射算法根据读数据得到目标读映射值，通过比较所述目标读映射值和所述目标写映射值判断所述存储器是否存在故障。实施本发明的技术方案，可节省存储空间，且应用范围更广。

技术领域

本发明涉及存储器测试领域，尤其涉及一种存储器的测试方法、装置及可读存储器。

背景技术

在SOC系统中，随着集成电路集成度和复杂度的提高，嵌入式存储器所占芯片面积越来越大，由于嵌入式存储器中晶体管密集，存在高布线密度、高复杂度和高工作频率等因素，嵌入式存储器的故障率也越来越高，这可能会导致芯片良率的下降。对于存在故障的嵌入式存储器有可能可以通过一些方法进行修补，使之能正常地工作，所以，正确的测试出嵌入式存储器是否存在故障是一个很重要的问题。

传统的存储器测试方法都是比较读写数据是否相同，通过比较读写数据来判断存储器是否存在故障，写入的数据如果是一些有规律的数据，读数据时可以根据这些规律生成写入数据并与读出数据进行比较。如果写入的数据是无规律可循的数据，则需要把这些数据存储起来，等到读数据时再和这些存储的写数据进行比较，这样就需要较大的存储空间，会导致存储器测试成本大大增加。实际上，传统的存储器测试方法，基本上都是写入一些有规律的数据，然后再读出这些数据，通过比较读写数据来判断存储器是否存在故障。例如，常见的存储器测试方法是March C算法，在嵌入式存储器测试中的应用非常广泛，并且有着非常好的测试效果。March C算法分为6步，下面是对算法的描述：

1.对所有存储单元写0。

2.对所有存储单元按照升序读0，写1。

3.对所有存储单元按照升序读1，写0。

4.对所有存储单元按照降序读0，写1。

5.对所有存储单元按照降序读1，写0。

6.对所有存储单元读0。

对于大多数的故障，传统的存储器测试方法都可以测试出来，但是对于某些偶合故障可能无法测试出。例如某个存储单元的几个存储位同时跳变到0或者是1，这种故障是传统的存储器测试方法无法测试到的，原因在于传统的存储器测试方法写入读出的数据本身就有规律，因此限制了存储器测试方法的应用。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术中存在需要较大的存储空间或应用范围小的缺陷，提供一种存储器的测试方法、装置及可读存储器，可节省存储空间，且方法灵活，可检测更多类型的故障，应用范围更广。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种存储器的测试方法，包括：

对存储器进行读写操作，通过预设的映射算法根据写数据得到目标写映射值；通过所述预设的映射算法根据读数据得到目标读映射值，通过比较所述目标读映射值和所述目标写映射值判断所述存储器是否存在故障。

在本发明的存储器的测试方法中，

在对所述存储器进行写数据时，根据所述存储器中至少一个存储单元的写数据生成当前写组合项，使用所述预设的映射算法对所述当前写组合项及前一写映射值进行计算以生成当前写映射值；

在对所述存储器进行读数据时，根据所述存储器中至少一个存储单元的读数据生成当前读组合项，使用所述预设的映射算法对所述当前读组合项及前一读映射值进行计算以生成当前读映射值；

当满足对比条件时，将所述当前写映射值作为目标写映射值，及将所述当前读映射值作为目标读映射值，并通过对比所述目标写映射值和所述目标读映射值判断所述存储器是否存在故障；

当不满足对比条件时，在对存储器进行读写的过程中继续生成新的当前写映射值和当前读映射值。