[发明专利]一种差分反射率ZDR标定方法及装置

权利要求书

1.一种差分反射率ZDR标定方法，其特征在于，所述方法包括：

获取每根径向上每个距离库对应的水平通道和垂直通道的复I/Q信号；

根据每个距离库对应的所述水平通道和垂直通道的复I/Q信号以及水平通道径向噪声，相应地计算每个距离库对应的ZDR相关数据；所述ZDR相关数据包括：水平通道反射率Z_h和差分反射率Z_dr；

根据bragg散射特征和各个距离库各自对应的ZDR相关数据，筛选出目标距离库，组成目标数据库集；

判断所述目标距离库集是否符合ZDR偏差评估标准；

若符合，则根据所述目标距离库集对应的ZDR相关数据确定ZDR偏差，所述ZDR偏差用于对实测ZDR进行标定；

所述判断所述目标距离库集是否符合ZDR偏差评估标准，包括：

判断所述目标距离库集中各个目标距离库对应的水平通道反射率Z_h小于等于第六预设阈值的比例是否达到预设比例；

判断所述目标距离库集中目标距离库的数目是否达到预设距离库数目；

判断所述目标距离库集中所有目标距离库对应的差分反射率的四分位距是否小于第七预设阈值；

若均满足，确定所述目标距离库集符合ZDR偏差评估标准。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述ZDR相关数据还包括：水平通道径向速度V_h、水平通道速度谱宽W_h、水平通道信噪比SNR、零滞后互相关系数ρ_hv0。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据每个距离库对应的所述水平通道和垂直通道的复I/Q信号以及水平通道径向噪声，相应地计算每个距离库对应的ZDR相关数据，包括：

根据所述距离库k对应的水平通道的复I/Q信号x_h和垂直通道的复I/Q信号x_v，计算距离库k对应的水平通道回波功率P_h(k)和垂直通道回波功率P_v(k)；

根据所述距离库k对应的水平通道回波功率P_h(k)，计算所述距离库k对应的水平通道反射率Z_h(k)；根据所述距离库k对应的垂直通道回波功率P_v(k)，计算所述距离库k对应的垂直通道反射率Z_v(k)；

根据所述距离库k对应的水平通道回波功率P_h(k)和垂直通道回波功率P_v(k)，计算所述距离库k对应的差分反射率Z_dr(k)；

根据所述距离库k对应的水平通道的复I/Q信号x_h和垂直通道的复I/Q信号x_v，相应地计算所述距离库k对应的水平通道零阶自相关R_hh0(k)、水平通道一阶自相关R_hh1(k)以及水平通道和垂直通道的零阶互相关R_vh0(k)；

根据所述距离库k对应的水平通道和垂直通道的零阶互相关R_vh0(k)、水平通道回波功率P_h(k)和垂直通道回波功率P_v(k)，计算所述距离库k对应的零滞后互相关系数ρ_hv0(k)；

根据所述距离库k对应的水平通道零阶自相关R_hh0(k)和水平通道一阶自相关R_hh1(k)，相应地计算所述距离库k对应的水平通道径向速度V_h(k)和速度谱宽W_h(k)；

根据所述距离库k对应的水平通道反射率Z_h(k)和所述水平通道径向噪声N_h，计算所述距离库k对应的水平通道信噪比SNR(k)。