[发明专利]游标塞尺校准用试验架

说明书

本发明公开了一种游标塞尺校准用试验架，包括导柱、底座、下测量条、滑块、固定螺栓、上测量条、支撑杆、百分表、定位块、凹槽、支撑柱、工作台、挡板、L型板、磁块、把手、游标塞尺和移动滑块，下测量条固定连接在导柱上，固定螺栓螺纹连接在滑块上，上测量条固定连接在下方的滑块上，支撑杆固定连接在上方的滑块上，百分表固定连接在支撑杆的右端，定位块固定连接在上测量条的右侧，支撑柱固定连接在底座上，工作台固定连接在支撑柱上，挡板固定连接在工作台上，L型板固定连接在工作台下表面，磁块滑动连接在L型板上，把手固定连接在磁块的下表面，游标塞尺滑动连接在挡板上，移动滑块滑动连接在游标塞尺的测量端。

技术领域

本发明涉及游标塞尺校准技术领域，具体为一种游标塞尺校准用试验架。

背景技术

游标塞尺是一种测量间隙用的度量工具，包括一个带有斜面的主尺，其上有刻线和数字，套在主尺上有一个尺框，一个游标尺紧固在尺框上，尺框端部伸出测量爪，尺框上设有可将尺框锁紧在主尺上的紧固螺丝，该装置解决了测量方法及设备测量间隙存在的测量误差大的问题，具有使用方便、读数精度可达0.01～0.005，测量范围广等优点，可广泛用于测量各种间隙。

游标塞尺在使用前，需要对其进行校准，在校准游标塞尺时，如果用手持游标塞尺进行校准，将很难保证校准的准确性，因此，需要一个用于游标塞尺校准用的试验架来解决此问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种游标塞尺校准用试验架，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种游标塞尺校准用试验架，包括导柱、底座、下测量条、滑块、固定螺栓、上测量条、支撑杆、百分表、定位块、凹槽、支撑柱、工作台、挡板、L型板、磁块、把手、游标塞尺和移动滑块，所述导柱固定连接在所述底座上，所述下测量条固定连接在所述导柱上，所述滑块滑动连接在所述导柱上，所述固定螺栓螺纹连接在所述滑块上，所述上测量条固定连接在下方的所述滑块上，所述支撑杆固定连接在上方的所述滑块上，所述百分表固定连接在所述支撑杆的右端，所述定位块固定连接在所述上测量条的右侧，所述凹槽开设在所述定位块上，所述支撑柱固定连接在所述底座上，所述工作台固定连接在所述支撑柱上，所述挡板固定连接在所述工作台上，所述L型板固定连接在所述工作台的下表面，所述磁块滑动连接在所述L型板上，所述把手固定连接在所述磁块的下表面，所述游标塞尺滑动连接在所述挡板上，所述移动滑块滑动连接在所述游标塞尺的测量端。

优选的，所述上测量条位于所述下测量条上方，且它们处于同一垂直位置。

优选的，所述百分表的测量端与所述凹槽处于同一垂直位置。

优选的，所述工作台的上表面与所述下测量条的上表面在同一水平位置上，且所述工作台的左端接近所述下测量条的右端。

优选的，所述挡板的数量为两个且对称设置在所述工作台上，且它们之间的距离数值等于所述游标塞尺的宽度。

优选的，所述L型板的数量为两个且对称设置在工作台的下表面，且它们之间的距离数值等于所述磁块的宽度。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：该游标塞尺校准用试验架：

导柱可以为下测量条、滑块、上测量条以及支撑杆提供支撑作用，下测量条和上测量条之间可以形成测量所需的缝隙，滑块可以在导柱上自由滑动，固定螺栓可以对滑块进行固定，支撑杆可以对百分表进行支撑，定位块以及凹槽可以与百分表的测量端对接，便于测量，支撑柱可以为工作台提供支撑作用，工作台以及挡板可以让游标塞尺在其上向特定的方向移动，两块L型板可以为磁块的位置进行限定，磁块可以对游标塞尺的金属测量端进行吸引，把手可以使人便于用手来拖动磁块移动，移动滑块与上测量条的右端接触会在游标塞尺的测量端上发生移动，移动至不同的位置后可以显示对应的不同的刻度。

附图说明

图1为本发明侧视示意图；