[发明专利]NVME硬盘寿命的检测方法、装置、系统及存储介质

说明书

本发明公开了一种NVME硬盘寿命的检测方法、装置、系统及计算机可读存储介质，该方法包括采用BMC读取NVME硬盘的管理寄存器，获取相应的寄存器信息；对所述寄存器信息进行解析得到所述NVME硬盘的使用寿命百分比；将所述使用寿命百分发送至终端设备进行显示。本申请能够通过BMC读取NVME硬盘的管理寄存器的寄存器信息，并对该寄存器信息解析后得到该NVME硬盘的使用寿命百分比，通过终端设备对NVME硬盘的使用寿命百分比进行显示，以便工作人员及时对寿命将尽的NVME硬盘进行更换，提高了检测的实时性和准确性，并且不需要额外的检测工具，节约成本。

技术领域

本发明实施例涉及存储设备技术领域，特别是涉及一种NVME硬盘寿命的检测方法、装置、系统及计算机可读存储介质。

背景技术

NVME硬盘是一种使用非易失性内存主机控制器接口规范(Non-Volatile Memoryexpress)的固态硬盘，通过PCI-Express(PCIe)总线进行读写操作，相对于普通固态硬盘性能有数倍提升。每个NVME硬盘均具有一定的使用寿命，并且NVME硬盘在寿命将尽时往往容易出现损坏，进而造成所存储的数据的丢失，因此，需要对NVME硬盘进行寿命检测。

目前，现有技术中主要是通过在系统下运行厂家提供的硬盘检测工具或者其他硬盘检测工具来预估NVME硬盘的寿命，一方面，增加检测成本、无法对NVME硬盘的寿命进行实时检测；另一方面，由于各个机器配置不同，硬盘厂家不同，导致检测工具的通用性较差，不能够准确的检测出VME硬盘的寿命。

鉴于此，如何提供一种解决上述技术问题的NVME硬盘寿命的检测方法、装置、系统及计算机可读存储介质成为本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种NVME硬盘寿命的检测方法、装置、系统及计算机可读存储介质，在使用过程中提高了检测的实时性和准确性，并且不需要额外的检测工具，节约成本。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种NVME硬盘寿命的检测方法，包括：

采用BMC读取NVME硬盘的管理寄存器，获取相应的寄存器信息；

对所述寄存器信息进行解析得到所述NVME硬盘的使用寿命百分比；

将所述使用寿命百分发送至终端设备进行显示。

可选的，还包括：

判断所述使用寿命百分比是否大于预设值，若是，则发出告警提示。

可选的，所述发出告警提示的过程为：

通过短信息的形式向客户端发送告警提示。

可选的，所述采用BMC读取NVME硬盘的管理寄存器的过程为：

采用BMC通过SMBUS协议读取NVME硬盘的管理寄存器。

可选的，在所述使用寿命百分比大于预设值时，还包括：

检测所述NVME硬盘的硬盘背板的数据信息；

依据所述硬盘背板的数据信息对所述NVME硬盘进行定位，获取所述NVME硬盘的位置信息。

本发明实施例相应的提供了一种NVME硬盘寿命的检测装置，包括：

读取模块，用于采用BMC读取NVME硬盘的管理寄存器，获取相应的寄存器信息；

解析模块，用于对所述寄存器信息进行解析得到所述NVME硬盘的使用寿命百分比；

发送模块，用于将所述使用寿命百分发送至终端设备进行显示。

可选的，还包括：