[发明专利]一种石墨烯表面清洁度的检测方法

权利要求书

1.一种石墨烯表面清洁度的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

S100，以预设组装方式在石墨烯表面形成分子层，所述分子层包含探针分子，所述探针分子在所述石墨烯的表面实现自组装；

S200，将包括所述分子层的所述石墨烯按第一预设温度烘烤第一预设时间，以使所述探针分子的自组装规整度更高；

S300，获取所述石墨烯表面的所述探针分子自组装规整度的图像；其中，所述S300包括：在所述石墨烯表面选择多个基准点，获取以每个所述基准点为中心的预设范围内的所述探针分子自组装规整度的图像；选择基准点的探针分子组装体规整度高的面积为S1，选择多个基准点的总面积为S2，石墨烯样品表面整体清洁度的参考值为S1/S2；

S400，将所述图像与所述探针分子自组装规整度标准图像进行比对，得到所述石墨烯的表面清洁度结果；

其中, 所述预设范围为5um*5um；

所述基准点的数量为5-10个；

所述探针分子为油酸酰胺分子；

所述第一预设温度比所述探针分子熔点低5℃-20℃。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，还包括：

S500，将含有所述探针分子的所述石墨烯置于真空环境中按第二预设温度烘烤第二预设时间，以去除所述石墨烯表面的所述探针分子。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，

所述预设组装方式为：旋涂组装、溶液浸泡组装或气相组装。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，

所述第一预设时间的数值范围为10分钟-60分钟。

5.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，

所述第二预设温度的数值范围为250 C°-350 C°。