[发明专利]跟踪数据压缩方法选择设备、方法和程序

说明书

压缩电路通过从多个压缩方法中选择的压缩方法来压缩跟踪数据。压缩电路优化部分操作要在MCU中操作的程序，并且生成程序的执行的结果和跟踪数据模拟的结果。压缩电路优化部分分析程序的执行的结果并且分析跟踪数据模拟的结果。压缩电路优化部分根据程序的执行的结果的分析结果并根据跟踪数据模拟的结果，来确定压缩电路的压缩方法。此外，压缩电路优化部分生成压缩电路数据，以用于操作作为通过所确定的压缩方法来压缩跟踪数据的电路的压缩电路。

相关申请的交叉引用

于2017年12月20日提交的日本专利申请No.2017-243708的公开内容(包括说明书、附图和摘要)通过引用整体并入本文。

技术领域

本发明涉及一种跟踪数据压缩方法选择设备、方法和程序。例如，本发明涉及一种可以用于在处理器根据程序操作的半导体设备中的程序开发的跟踪数据压缩方法选择设备、方法和程序。

背景技术

在日本未审查专利申请公开No.2009-87343中公开了一种生成指示数据处理设备中的监测目标电路的活动的跟踪流的跟踪电路。日本未审查专利申请公开No.2009-87343描述了一种跟踪电路包括多个压缩电路的配置。跟踪电路利用压缩电路压缩跟踪数据，比较压缩结果，并且选择具有高压缩效果的压缩电路。另外，日本未审查专利申请公开No.2009-87343指出该压缩电路由诸如FPGA(现场可编程门阵列)等可重新配置器件形成。

发明内容

根据日本未审查专利申请公开No.2009-87343，基于实时生成的跟踪信息的分析结果来进行压缩电路选择。日本未审查专利申请公开No.2009-87343指出需要测试操作时段来分析跟踪信息。因此，如果监测目标电路的程序操作的趋势改变，则需要相当多的时间来应对这样的改变。特别是近年来，被设计用于控制的MCU(微控制器单元)可能偶尔同时控制多个控制目标。在这种情况下，正在运行的程序经常改变。如果正在运行的程序发生改变，则所得到的跟踪信息的数据趋势会发生改变。根据日本未审查专利申请公开No.2009-87343，在测试操作时段期间实时地分析跟踪信息。因此，例如，紧接在程序改变之后，跟踪数据无法通过适合于该跟踪数据的压缩方法而被压缩。

根据以下描述和附图，其他问题和新颖特征将变得很清楚。

根据本发明的一个方面，一种跟踪数据压缩方法选择设备模拟在包括处理器的半导体设备上运行的程序，并且根据程序执行的结果和跟踪数据模拟的结果来确定用于安装在半导体设备中的压缩电路中的压缩方法。

根据本发明的上述方面，可以通过适合于跟踪数据的压缩方法来压缩在半导体设备中执行程序时生成的跟踪数据。

附图说明

图1是示出根据本发明的第一实施例的包括跟踪数据压缩方法选择设备的系统的框图；

图2是示出压缩电路优化部分的示例性配置的框图；

图3是示出由压缩电路优化部分执行以确定压缩方法的操作进程的流程图；

图4是示出根据本发明的第二实施例的包括跟踪数据压缩方法选择设备的系统的框图；

图5是示出由MCU执行以调试程序的操作过程的流程图；以及图6是示出第二实施例中的MCU的示例性操作的时序图。

具体实施方式