[发明专利]一种中短光纤跳线长度测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种中短光纤跳线长度测量装置，其特征是，该装置包括：

可见光产生电路，用于产生可见光信号，并将该可见光信号分成两路光信号分别输出至标准光纤跳线长度测量电路和被测光纤跳线长度测量电路；

标准光纤跳线长度测量电路，用于测量标准光纤跳线返回的光信号，并将该光信号转换成电信号输出至调制解调电路；

被测光纤跳线长度测量电路，用于测量被测光纤跳线返回的光信号，并将该光信号转换成电信号输出至调制解调电路；

调制解调电路，用于调制可见光产生电路产生的可见光信号频率，对接收到的两个电信号进行解调，分别记录标准光纤跳线返回的光信号相位相同时不同频率值以及被测光纤跳线返回的光信号相位相同时不同频率值，并分别计算标准光纤跳线返回的光信号相位相同的频率差值以及被测光纤跳线返回的光信号相位相同的频率差值，根据标准光纤跳线的长度，计算被测光纤跳线长度，将标准长度光纤跳线反射回的光信号功率相位相同时相邻的频率差值与被测光纤跳线反射回的光信号功率相位相同时相邻的频率差值相比，将得到的比值与标准光纤跳线的长度相乘，得到被测光纤跳线的长度。

2.根据权利要求1所述的中短光纤跳线长度测量装置，其特征是，所述可见光产生电路包括可见光激光器和第一耦合器，所述可见光激光器输出可见光信号至第一耦合器；所述第一耦合器将接收到的可见光信号分成两路光信号，一路光信号输出至标准光纤跳线长度测量电路，另一路光信号输出至被测光纤跳线长度测量电路。

3.根据权利要求1所述的中短光纤跳线长度测量装置，其特征是，所述标准光纤跳线长度测量电路包括第二耦合器和第一光电探测器，所述第二耦合器接收第一耦合器输出的一路光信号，并输出到标准光纤跳线，光信号经标准光纤跳线的端面反射回第二耦合器中，第二耦合器将标准光纤跳线返回的光信号传输到第一光电探测器，所述第一光电探测器将接收到的光信号转换成电信号，并将电信号输出至调制解调电路。

4.根据权利要求1所述的中短光纤跳线长度测量装置，其特征是，所述被测光纤跳线长度测量电路包括第三耦合器和第二光电探测器，所述第三耦合器接收第一耦合器输出的另一路光信号，并输出到被测光纤跳线，光信号经过被测光纤跳线的端面反射回第三耦合器中，第三耦合器将被测光纤跳线返回的光信号传输到第二光电探测器，所述第二光电探测器将接收到的光信号转换成电信号，并将电信号输出至调制解调电路。

5.根据权利要求1所述的中短光纤跳线长度测量装置，其特征是，所述调制解调电路包括调制电路、标准光纤光信号解调电路和被测光纤光信号解调电路；

所述调制电路包括依次连接的中央处理器、信号发生器和激光器驱动器，中央处理器通过信号发生器和激光器驱动器调制可见光激光器的光信号；

所述标准光纤光信号解调电路包括依次连接的第一光电二极管、第一信号放大器和第一相位比较器，所述第一光电二极管接收第一光电探测器测量的标准长度光纤跳线返回的光信号，经过第一信号放大器放大后，输出至第一相位比较器，第一相位比较器将放大后的光信号与信号发生器的原始正弦波信号进行比较，将比较结果输出至中央处理器；

所述被测光纤光信号解调电路包括依次连接的第二光电二极管、第二信号放大器和第二相位比较器，所述第二光电二极管接收第二光电探测器测量的被测光纤跳线返回的光信号，经过第二信号放大器放大后，输出至第二相位比较器，第二相位比较器将放大后的光信号与信号发生器的原始正弦波信号进行比较，将比较结果输出至中央处理器。

6.一种中短光纤跳线长度测量方法，该方法基于权利要求1-5中任一项所述的中短光纤跳线长度测量装置实现的，其特征是，该方法包括以下步骤：

获取可见光信号的调制频率，分别计算标准长度光纤跳线以及被测光纤跳线返回的光信号功率；

分别计算标准长度光纤跳线以及被测光纤跳线返回的光信号相位相同时相邻频率差值；

利用得到的相邻频率差值，计算被测光纤跳线的长度；

比较被测光纤跳线长度的初始值与得到的被测光纤跳线长度大小，识别被测光纤跳线通断情况。