[发明专利]电磁流量计的电位检测用电极有效

专利信息
申请号: 201811527276.X 申请日: 2018-12-13
公开(公告)号: CN109931993B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 木村宏治 申请(专利权)人: 阿自倍尔株式会社
主分类号: G01F1/58 分类号: G01F1/58
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 肖华
地址: 日本国东京都千*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电磁流量计 电位 检测 用电
【说明书】:

本发明提供一种尽管具有被导电体覆盖的环状槽,但导通的可靠性高的电磁流量计的电位检测用电极。该电位检测用电极具备:主体部(21),其具有露出到测定管(13)之中的接液部(25),并用导电体(42)覆盖母材(41)而形成;以及端子部(22),其与导电体(42)电连接。主体部(21)具有一端成为接液部(25)的圆柱状的小径部(23)以及从小径部(23)向径向的外侧延伸的圆板状的大径部(24)。端子部(22)具有导通部(31)和从导通部(31)向主体部(21)的相反方向延伸的轴部(32),该导通部(31)具有与大径部(24)嵌合的筒体(33)。在大径部(24)的外周部形成有在大径部(24)与筒体(33)之间构成环状槽(52)的环状的凹部(51)。

技术领域

本发明涉及包含接液部的主体部被具有导电性的材料覆盖的电磁流量计的电位检测用电极。

背景技术

作为以往的电磁流量计,存在这样的构成:通过电位检测用电极取出在流经测定管内的流体产生的电动势。形成该电位检测用电极的材料通常是不锈钢,但根据检测对象的腐蚀性使用了各种各样的材料。作为耐腐蚀性高的电极材料,较多的是例如专利文献1所揭示的铂等贵金属材料。贵金属材料的材料强度低,因此存在有不能制作的形状这样的不良情况。为了解决这种不良情况,采用非贵金属材料作为基底金属来形成电极,并且如专利文献1所述,可以考虑用贵金属材料覆盖该电极。

但是,在磨损性的物体混入了流经测定管内的流体的情况下,有时覆盖电极的贵金属材料会剥落。另外,有时会由于对测定管施加冲击,或由于测定管的腐蚀、制造时的缺陷等而导致覆盖电极的贵金属材料剥落。

当该贵金属材料剥落时,由于基底金属与贵金属材料的电位差而产生电化学噪声。该噪声成为电磁流量计的输出噪声。

覆盖电极的金属材料剥落并产生噪声这样的问题,如本申请的申请人在专利文献2中所提案的那样,能够通过如下方式解决:用绝缘体形成电极主体,用贵金属材料覆盖绝缘体的表面并将该贵金属材料作为导电路径。在专利文献2中,记载了具有如下构造的电位检测用电极3:如图8所示,由作为绝缘体的陶瓷形成的母材1被由具有耐腐蚀性的金属构成的导电体2覆盖。该电位检测用电极3具有:第一小径部3a,该第一小径部3a被插入形成于测定管4的电极插通用的孔5;大径部3b,该大径部3b位于测定管4的外侧;以及第二小径部3c,该第二小径部3c从该大径部3b向第一小径部3a的相反方向突出。在第二小径部3c连接有引线6。

如图9所示,有时在大径部3b形成环状槽7。在图9中,对于与图8所说明的构件相同或者等同的构件,标注相同的附图标记,并且省略详细的说明。该环状槽7是容纳衬垫8的槽,并且形成为与第一小径部3a位于相同轴线上的环状。衬垫8是用于密封测定管4中的流体通路4a与电位检测用电极3的大径部3b之间的构件。

这样一来,希望以均匀地覆盖环状槽7的内周面7a、底面7b以及外周面7c的方式使用金属浆料(未图示)来形成具有环状槽7的电位检测用电极3的导电体2。金属浆料是包含金属粉的浆料,以涂敷到母材1的状态与母材1一起烧制,并且进行金属浆料烧结,从而成为导电体2。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本实开平2-16024号公报

专利文献2:日本特愿2017-038984

发明内容

发明要解决的问题

如图9所示,在包含环状槽7在内并被导电体2覆盖的电位检测用电极3中,如图10以及图11所示,有可能导致导电体2的一部分2a从环状槽7的外周壁剥落。其理由是因为在烧制时,线膨胀系数大的材料由于线膨胀系数的差而更大地收缩,从而产生收缩应力。该收缩应力朝向径向的内侧产生。即,当大径部3b的由陶瓷构成的母材1与导电体2的密合性不足时,导电体2比母材1更大地收缩,导电体2会从环状槽7的外周壁朝向径向的内侧剥落。

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